Zwarcia w układach przekształtnikowych

• Autorzy: Januszewski S. , Gawecka H.

Warianty tytułu

EN

Short and periodical measurements in electric wiring systems of up to 1kV

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

EN

Converter systems with high power semiconductor devices. Procedures of short circuit testing of high power converter-based drive systems, criteria of their assessment. Design features of safe modules.

Słowa kluczowe

PL

konstrukcja modułów bezpiecznych; układy napędowe

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Wiadomości Elektrotechniczne
• Rocznik: 2000
• Tom: nr 8
• Strony: 421--423
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Januszewski S.

• Instytut Elektrotechniki w Warszawie
• członek SEP

autor

Gawecka H.

• Redaktor działowy WE
• członek SEP

Bibliografia

• [1] GEKENIDIS S., RAMEZANI E., ZELLER H.: Explosion Tests on IGBT High Voltage Modules. Proc. of ISPSD ‘99, May 1999, Toronto (Canada)
• [2] lEC 60747-6:1983 Semiconductor Devices and Integrated Circuits. Part 6: Thyristors (z uzupełnieniami A1:1991 oraz A2:1994)
• [3] JANUSZEWSKI S., ŚWIĄTEK H., ZYMMER K.: Zapobieganie zagrożeniom eksplozją przyrządów energoelektronicznych przy zwarciach w przekształtnikach dużej mocy. Wiadomości Elektrotechniczne 1999 nr 3
• [4] JANUSZEWSKI S.: Obudowy pastylkowe z dociskiem zewnętrznym tranzystorów IGBT umożliwiające chłodzenie obustronne. Wiadomości Elektrotechniczne 1999 nr 12
• [5] LOCKWOOD G., WAKEMANN Bond free Pressure Contact IGBTs. PCIM Europe 1999 nr 12
• [6] MEHROTRA V., DADKHAH M. S., RUGG K., SHAW M. C.: Wirebond Reliability in IBGT-Power Modules: Application of High Resolution Strain and Temperature Mapping. Proc. of ISPSD ‘99, May 1999, Toronto (Canada)