Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Short and periodical measurements in electric wiring systems of up to 1kV
Języki publikacji
Abstrakty
Converter systems with high power semiconductor devices. Procedures of short circuit testing of high power converter-based drive systems, criteria of their assessment. Design features of safe modules.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
421--423
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Instytut Elektrotechniki w Warszawie
- członek SEP
autor
- Redaktor działowy WE
- członek SEP
Bibliografia
- [1] GEKENIDIS S., RAMEZANI E., ZELLER H.: Explosion Tests on IGBT High Voltage Modules. Proc. of ISPSD ‘99, May 1999, Toronto (Canada)
- [2] lEC 60747-6:1983 Semiconductor Devices and Integrated Circuits. Part 6: Thyristors (z uzupełnieniami A1:1991 oraz A2:1994)
- [3] JANUSZEWSKI S., ŚWIĄTEK H., ZYMMER K.: Zapobieganie zagrożeniom eksplozją przyrządów energoelektronicznych przy zwarciach w przekształtnikach dużej mocy. Wiadomości Elektrotechniczne 1999 nr 3
- [4] JANUSZEWSKI S.: Obudowy pastylkowe z dociskiem zewnętrznym tranzystorów IGBT umożliwiające chłodzenie obustronne. Wiadomości Elektrotechniczne 1999 nr 12
- [5] LOCKWOOD G., WAKEMANN Bond free Pressure Contact IGBTs. PCIM Europe 1999 nr 12
- [6] MEHROTRA V., DADKHAH M. S., RUGG K., SHAW M. C.: Wirebond Reliability in IBGT-Power Modules: Application of High Resolution Strain and Temperature Mapping. Proc. of ISPSD ‘99, May 1999, Toronto (Canada)
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPOC-0001-0046