Analiza układu podwójnego skorelowanego próbkowania z całkowaniem

• Autorzy: Popowicz A.

Warianty tytułu

EN

Analysis of correlated double sampling circuit with integration

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Celem artykułu jest zaprezentowanie cech układu podwójnego skorelowanego próbkowania z członem całkującym (CDSI). Zostały przedstawione jego przewagi nad typowym układem CDS w precyzyjnych pomiarach niewielkich napięć stałych. Szczególną uwagę poświęcono analizie szumowej układu oraz optymalnemu doborowi czasu całkowania, decydującym o dokładności wyników pomiarów.

EN

Features of a correlated double sampling (CDS) circuit with integration part are presented in article. Its advantages for constant voltage measurement purpose are also highlighted. The main purpose of the article includes noise analysis and requirement of particular integration time selection to improve measurement precision.

Słowa kluczowe

PL

skorelowane podwójne próbkowanie; precyzyjne pomiary napięcia; analiza szumowa

EN

correlated double sampling; precise voltage measurement; noise analysis

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 88, nr 2
• Strony: 200--203
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Popowicz A.

• Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 16, 44-100 Gliwice,

Bibliografia

• [1] Jon Wilson “Sensor Technology Handbook”, Elsevier 2005
• [2] Martin H. White, Donald R. Lampe, Franklyn C. Blaha, Ingham A. Mack “Characterization of Surface Channel CCD Image Arrays at Low Light Levels”, IEEE Journal of Solid States Circuits, vol 9, no. 1, 1974
• [3] Alex Wong, Kiran Gangavarapu, Mitch Newcomer, Britton Chance, “A Near-Infrared Non-invasive imager using Correlated Double Sampling”, IEEE/EMBS International Summer School on Medical Devices and Biosensors (ISSSMD) 2004
• [4] Gabor C. Temes, Christian C. Enz “Circuit Techniques For Reducing The Effects of OP-AMP Imperfections”, Proceedings of The IEEE, vol. X4, NO. 1, 1996
• [5] Edoardo Milotti “1/f noise: a pedagogical review”, Dipartimento di Fisica, Università di Udine and I.N.F.N. – Sezione di Trieste Via delle Scienze, 208 – I-33100 Udine, Italy, 2001
• [6] Ron Mancini “Op Amps For Everyone”, Texas Instruments, 2002