Badanie detektorów na potrzeby mikroskopii miękkiego promieniowania X

• Autorzy: Mikołajczyk J. , Bielecki Z. , Nowakowski M. , Gutowska M.

Warianty tytułu

EN

Investigations of the detectors for X-ray microscopy

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono opis stanowiska laboratoryjnego do badań właściwości detektorów promieniowania z zakresu długości fal 2-4 nm. Właściwości te odnoszą się do niejednorodności powierzchniowej ich czułości widmowej. Zastosowany zakres widmowy promieniowania jest szczególnie interesujący w badaniach medycznych i biologicznych. Jest on bardzo często określany jako zakres promieniowania tzw.„okna wodnego”, w którym jest możliwa obserwacja tkanek żywych. Dokładne określenie czułości detektorów stosowanych w mikroskopii optycznej jest istotnym elementem rozwoju tej technologii. Praca dotyczy stanowiska laboratoryjnego do pomiaru niejednorodności czułości przy wykorzystaniu źródła laserowo-plazmowego z tarczą gazową. Przedstawiono w niej analizy dotyczące doboru poszczególnych elementów stanowiska oraz wyniki wstępnych badań.

EN

The paper presents a laboratory setup for investigation of spatial non-uniformity of detector responsivity in the wavelength range from 2 nm to 4 nm. The spectrum is of great interest in biology. In the water-window spectra, where water is rather transparent, microscopic observation of living objects is possible. Accurate determination of the responsivity of photodetectors used in this application is highly desired. The change of responsivity over the surface, the so-called spatial non-uniformity, effects error of power measurements especially in the case of detectors with large active areas or imaging ones. At the described setup, the laser-plasma source with a gas-puff target is used. The preliminary results of a silicon photodiode investigations are also presented and discussed.

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia; miękkie promieniowanie X; testowanie detektorów

EN

soft X-ray microscopy; detectors calibration

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 86, nr 11a
• Strony: 197--199
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Mikołajczyk J.

autor

Bielecki Z.

autor

Nowakowski M.

autor

Gutowska M.

• Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. S.Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa,

Bibliografia

• [1] Majima T., Soft X-ray imaging of living cells in water: flash contact soft X-ray microscope, Trend in Analytical Chemistry, 2004, nr.7, 520-525
• [2] Durak M. et. al., Spatial Non-uniformity Measurements of Large Area Silicon Photodiodes, Turk J Phys, 2002, nr.26, 375- 379
• [3] Zhang X., Balhorn R., Mazrimas J. et. al., Mapping and measuring DNA to protein ratios in mammalian sperm head by XANES imaging, J Struct Biol, 1996, nr.116, 335-344
• [4] Nettleton D. H., Prior T. R., Ward T. H., Improved spectral responsivity scales at NPL, 400nm to 20μm, Metrologia, 1993, nr.30, 425-432
• [5] Larason T. C., Bruce S. S., Parr A. C., Spectroradiometric Detector Measurements, NIST Spec. Publ., 1998, 250-41
• [6] Geist J., Silicon photodiode absolute spectral response selfcalibration, Appl. Opt., 1980, nr.19, 1214-1216
• [7] Fiedorowicz H. et. al., Investigation of soft X-ray emission from a gas puff target irradiated with a Nd:YAG laser, Optics Communications, 1999, nr.163, issues 1-3, 103-114
• [8] Uspenskii Y. et al., Optimal Design of Multilayer Mirrors for Water-Window Microscope Optics, Optical Review, 2007, vol.14, nr.1, 64-73
• [9] Mikołajczyk J. et. al., System for calibration of EUV detectors, Photonics Letters of Poland, 2009, vol. 1(2), 70-72