Cyfrowe sterowanie pola skanowania w mikroskopie bliskich oddziaływań

• Autorzy: Zielony M. , Gotszalk T.

Warianty tytułu

EN

Digital setting of scanning field in Scanning Probe Microscopy

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia algorytm i układ sterowania polem skanowania mikroskopu bliskich oddziaływań w uniwersalnym sterowniku SPM zbudowanym na bazie procesora sygnałowego TigerSharc TS101 firmy Analog Devices. Opisane zostały ograniczenia w bezpośrednim cyfrowym generowaniu pola skanowania, rozwiązanie tego problemu oraz rozszerzenie możliwości o zadawania kata pola skanowania.

EN

This papper shows an algorithm and appliance to scanning field controll in universal Scannig Probe Microscopy driver, based on signal processor TigerSharc TS101 made by Analog Devices. We character restrictions in direct digital generate of scanning field and solution for solving this problem. We also describe ability of setting scanning field angle.

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia bliskich oddziaływań; SPM; zaawansowane sterowanie; analogowo-cyfrowe układy elektroniczne

EN

SPM; Scanning Probe Microscope; advanced control; analog-digital elecronic devices

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 86, nr 11a
• Strony: 180--183
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., rys., schem.

Twórcy

autor

Zielony M.

autor

Gotszalk T.

• Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej

Bibliografia

• [1] Gotszalk T., Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro- i nanostruktur, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 2004
• [2] Zielony M., Zawierucha P., Woszczyma M., Kolanek K., Klich M., Gotszalk T., Sterowniki oddziaływań w mikroskopii sił atomowych, V Krajowa konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 11-14 czerwca 2006, przyjęte do druku w materiałach konferencyjnych
• [3] Nota katalogowa produktów firmy Analog Devices [online]. Dostępne w Internecie: http://www.analog.com