PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Możliwości zwiększania niezawodności metrologicznej przyrządów pomiarowych z zastosowaniem wzorców miar sterowanych kodowo oraz nowoczesnych technologii informacyjnych

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Possibilities of increasing of reliability of the measuring device by code control measure and modern information technology
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W ramach istniejących teorii niezawodności metrologicznej istotna jest informacja o intensywności degradacji metrologicznej wszystkich parametrów elementów dyskretnych. Międzynarodowy dokument normalizacyjny ISO 10012:2003 wymaga wprowadzania metod kontroli procesów i przyrządów pomiarowych. W celu zwiększania niezawodności metrologicznej inteligentnych cyfrowych przyrządów pomiarowych uzasadnione i celowe jest zastosowanie w ich konstrukcji metody różnicowej pomiaru wraz z korekcją błędów metodą inwersji komutacyjnej. W pracy opisano model matematyczny procesów korekcji wartości przypadkowego składnika błędu całego przyrządu pomiarowego. Określono warunki realizacji sprawdzania metrologicznego pomiarowych przyrządów cyfrowych w miejscu eksploatacji bez ich demontażu. Sformułowano wymagania dotyczące konstrukcyjno-technologicznej realizacji wzorców miar sterowanych kodowo.
EN
Usually, the metrological intensity of all discrete used components is necessary for whole measuring device metrological reliability determination is analysed in this paper. Extrapolation of the metrological characteristic probable variation is another way for measurement units’ metrological reliability estimation. If it possible the measuring devices higher precision class is the sense of third way of the metrological reliability protection. A lot of experimental results elaboration is necessary for correct metrological reliability characteristics estimation by the both first ways. International standard ISO 10012:2003 recommended both measuring process and measuring device control methods introduction. The measuring devices errors polynomial model analysis is presented in this paper too. For the main additive and accidental parts of measuring units error correction by inverse commutating (flip-flop) method is proposed in this paper. The structural circuits with automatically correction both of the bias voltages and accidental inputs signals are proposed for decreasing of the additive constituent error. The differential measurement method with code control measure using is described in this paper too. The main requirements such as on-chip realization and some destabilization quantity influence corrections is discussed too. The metrological checking at measuring devices working conditions is proposed in this paper too.
Rocznik
Strony
80--83
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
  • Narodowy Uniwersytet „Lwiwśka Politechnika”, Katedra Metrologji, Standartyzacji, Sertyfikacji, ul. S. Bandery 12, 79013 Lwów, Ukraina, vyatsuk@polynet.lviv.ua
Bibliografia
  • [1] Yatsuk W., Małacziwskyj P. Metody zwięszania dokładności pomiarów, Beskyd-bit, Lwów, Ukraina, 2008, 368 s.
  • [2] Fridman A. Teorija niezawodnośći metrologicznej przyrządów pomiarowych, Izmieritelnaja Technika, 1991, nr.11, 3-10.
  • [3] Fridman A. Zbliżona ocena niezawodnośći metrologicznej przyrządów pomiarowych na etapie ich stwarzania, Izmieritelnaja Technika, 1992, nr.7, 11-14.
  • [4] Nowickij P., Zograf I., Łabuniec W. Dynamika błędów przyrządów pomiarowych, 2 wydanie., Leningrad, Energoatomizdat, 1990, 192 s.
  • [5] Obozowskij S. Teoretyczne podstawy technik informacyjnopomiarowych, Kyjiw, odział merytoryczny zarądy ćwiczenia Ukrainy, 1991, 223 s.
  • [6] ISO 10012:2003, Measurement management systems. – Requirements for measurement processes and measuring equipment, Norma międzynarowa, 20 s.
  • [7] Jekimow A., Riewiakow M. Niezawodność przyrządów pomiarowych, Lieningrad, Energoatomizdat, 1986, 320 s.
  • [8] VanderZiel А. Noise. Sources, Characterization, Measurement, Prentice-Hall Inc., Englewood Cliffs, N. J., 1970, 228 p.
  • [9] Robinson F.N.H., Noise and fluctuation in electronic devices and circuits, Clarendon Press, Oxford, 1974, 255 p.
  • [10] Internet: http: // www.elfa.com / Katalog ELFA, 1100 s.
  • [11] Poliszczuk Je., Dorożoweć M., Yatsuk W. Ta in., Metrologia oraz technika pomiarowa, Lwów, Beskyd-bit, Ukraina, 2003, 544 s.
  • [12] Yatsuk W. Zwiększanie niezawodności metrologicznej przyrządów pomiarowych w roboczych warunkach eksploatacji, Technika pomiarowa i metrologia, 2002, nr.60, s. 98–102.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPOB-0036-0020
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.