Koncepcja testowania łączników, umożliwiająca określenie ich właściwości, jako elementów wpływających na generację zakłóceń elektromagnetycznych w układach elektronicznych

• Autorzy: Ruszel P.

Warianty tytułu

EN

Connectors testing idea to determine their parameters as factors influencing electromagnetic interferences formation in electronic circuits

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W opracowaniu omówiono koncepcję testowania elektromechanicznych i elektronicznych podzespołów realizujących funkcję łączników (kluczy elektrycznych). Umożliwia ona określenie właściwości tych podzespołów jako elementów wpływających na powstawianie zakłóceń elektromagnetycznych układach elektronicznych. Zaprezentowano również wyniki pomiarów, wykonanych przez autora, w układzie działającym według omówionej koncepcji.

EN

In the paper idea of testing electromechanical and semiconductors components which play a role of connectors (electric switches) in the electronic circuits have been discussed. This concept enables to determine these components as elements that influence the electromagnetic interferences formation in electronic circuits. Furthermore, the results of the tests, performed by the paper's author, carried out in the circuit operating according to the discussed concept, being presented in the paper.

Słowa kluczowe

PL

zakłócenia elektromagnetyczne; źródło zakłóceń; klucz elektryczny; pomiary

EN

electromagnetic compatibility; source of disturbances; electric switch; measurements

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2009
• Tom: R. 85, nr 6
• Strony: 191--194
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Ruszel P.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Instytut Inżynierii Biomedycznej i Pomiarowej, ul. Wybrzeże Wyspiańskiego, Wrocław,

Bibliografia

• [1] Hołownia J., A State Space Analysis Example of Transient Noise Generation in Electrical Circuits, JEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility,EMC-18(1976),nr.3, 97-105.
• [2] Ruszel P., Metrological Aspects in Measurements of a Spectrum Generated as the Result of Switching an Electric Circuit, Metrology and Measurement Systems, vol XIV, number 2 (2007), 241-255.
• [3] Ruszel P., Sposób i układ do pomiaru widma częstotliwości patent, Polska, nr. 170392
• [4] Ruszel P., Głowica do pomiaru widma częstotliwości, patent, Polska, nr. 170412
• [5] J. Szabatin., Podstawy teorii sygnałów. WKŁ Warszawa, 1982, ( wydanie trzecie 2000r).
• [6] Ruszel P., Model źródła zakłóceń, reprezentujący łącznik i zaburzenie wywołane jego przełączeniem w prostym układzie elektrycznym, Przegląd Elektrotechniczny, nr 9/ 2007, 108-110.
• [7] Ruszel P., Wybrane zagadnienia z modelowania źródeł zakłóceń elektromagnetycznych, Przegląd Elektrotechniczny, nr 2/2009, 89-92.