Zastosowanie fotoodbicia do badania cienkich warstw InxGa1-xAs

• Autorzy: Talik S. , Sęk G. , Misiewicz J.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

spektroskopia fotoodbiciowa; pomiary fotoodbiciowe

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 1998
• Tom: nr 10
• Strony: 273--275
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Talik S.

• Instytut Elektrotechniki - Oddział Wrocław

autor

Sęk G.

autor

Misiewicz J.

Bibliografia

• [l] Seraphin B.O., Bonka N.: Physical Review 14S, 628, (1966)
• [2] Aspnes D.E., Studna A.A.: Phys. Rev. B 7,4605 (1973)
• [3] Aspnes D.E.: Handbook on Semiconductors, 2, cd. M. Bałkański, 109,(1980).
• [4] Misiewicz J., Jezierski K., Sitarek P., Markiewicz P., Korbutowicz R., Panek M., Ściana B., Tłaczała M.: Adv. Maletr. Opt. Eletrnn. 5, 321, (1995).
• [5] Fitzgerald E.A.: IEE EMIS Datareviews Series 8,ed. P. Bhattacharaya. 6. (1993).