Wpływ zanieczyszceń kurzem na pracę zestyków elektrycznych małej mocy

• Autorzy: Zhang J. G. , Wan J.W. , Xu L.J. , Miedziński B. , Szymański A.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

zestyki elektryczne; zanieczyszczenia kurzem

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 1998
• Tom: nr 8
• Strony: 198--202
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Zhang J. G.

• Uniwersytet Poczty i Telekomunikacji w Pekinie

autor

Wan J.W.

autor

Xu L.J.

autor

Miedziński B.

autor

Szymański A.

Bibliografia

• [1] Wiliamson JBP, Greenwood I.A. Harris J.: The influence of dust particle on the contact of solids. Proc. Roy. Soc. series A, Vol 237:1956 p.560-570
• [2] Zhang J.G. Wen X.M.: The effect of dust contaminations on electric contact IEEE Trans. CHMTVol 9:1986 No 1, March, p. 53-58
• [3] Zhang J.G. Zhou K.D., Du Ch.: The porosity of gold plating by dust contamination. Proc. 34th Holm Conf. on Electrical Contacts, 1988, p. 301-309
• [4] Zhang J.G.: Influence of contain illations in connector performance. Proc. 16th Int. Conf. on El. Contacts ICEC’92, 1992, p. 111-121
• [5] Cui X.X., Zhang J.G.: Micro-analysis of dust collected in Poland (1st batch of dust samples). Report I. Beijing University of Posts and Telecommunications, 1995 (opracowanie niepublikowane)
• [6] Liang Y.N., Zhang J.G., Liu J.J.: Elemental analysis of dust collected in Po¬land (2nd batch of dust samples) Report II, Beijing University of Posts and Telecom¬munications, 1995 (opracowanie nie publikowane)
• [7] Zhang J.G., Chen W.: Wipe on various lubricants and nolubricated electric contacts in dusty environments. lEEETrans. CHMT Vol. 14:1991, No 2, June, p. 309-314
• [8] Zhang J.G., Xu L.J., Miedziński B.: Zabezpieczające pokrycia styków elektrycznych - właściwości i zastosowanie. Przegląd Elektrotechniczny 1996 nr 12, s. 309-312