A Low-Cost Temperature Attachment for in-situ Measurements in the X-ray Diffractometer

• Autorzy: Kucharska B. , Nitkiewicz Z.

Warianty tytułu

PL

Niskonakładowa przystawka temperaturowa do pomiarów in-situ w dyfraktometrze rentgenowskim

• Konferencja: Inżynieria Powierzchni, INPO 2008 ( VII; 02-05.12.2008; Wisła-Jawornik, Polska)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents the design of a temperature attachment for in-situ measurements to be used in the Seifert 3003TT X-ray diffractometer owned by the Institute of Materials Engineering at the Czestochowa University of Technology, but being also able to be adapted to other types of diffractometers. The schematic diagram of the device, its temperature characteristics and the method of mounting it in the diffractometer chamber are also provided. The temperature attachment enables measurements to be performed on specimens of a maximal size of ?30×6.6 mm within a max temperature troom 350oC. Examples of application of the device for the measurement of thermal expansion and stress relaxation in ground copper and the allotropic change of sulphur are given. Both the price advantage of the device and the wide possibilities of using it for the examination of bulky specimens constitute an advantageous alternative to expensive, specialized equipment most often designed for the examination of specimens of much more reduced sizes.

PL

W pracy przedstawiono projekt przystawki temperaturowej do pomiarów inwitu w dyfraktometrze rentgenowskim Seifert 3003TT będącego na wyposażeniu Instytutu Inżynierii Materiałowej w Politechnice Częstochowskiej, ale mogącego być dostosowanym do innego typu dyfraktometrów. Przedstawiono schemat urządzenia, jego temperaturową charakterystykę oraz sposób montażu w komorze dyfraktometru. Przystawka temperaturowa pozwala wykonywać pomiary na próbkach o maksymalnej wielkości ?30×6,6 mm w temperaturze tpok 350oC. Podano przykładowe zastosowania urządzenia dla pomiaru rozszerzalności cieplnej i relaksacji naprężeń w szlifowanej miedzi oraz przemiany alotropowej siarki. Walory cenowe jak i szerokie możliwości wykorzystania urządzenia do badania próbek masywnych stanowią korzystną alternatywę dla drogich, wyspecjalizowanych urządzeń przystosowanych najczęściej do badania próbek o znacznie ograniczonych rozmiarach.

Słowa kluczowe

PL

pomiar in situ; projekt przystawki temperaturowej; dyfraktometr rentgenowski

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Inżynieria Materiałowa
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 29, nr 6
• Strony: 1072--1075
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys.

Twórcy

autor

Kucharska B.

autor

Nitkiewicz Z.

• Czestochowa University of Technology, Faculty of Materials Processing & Applied Physics, Institute of Materiale Engineering,

Bibliografia

• [1] Cullity D. B.: Elements of X-ray Diffraction, Addison-Wesley (1956).
• [2] Bojarski Z., Łągiewka E.: Rentgenowska analiza strukturalna, Wyd. Uniwersytetu Śląskiego, Katowice (1995).
• [3] Senczyk D.: Polikrystaliczny dyfraktometr rentgenowski, Wyd. Politechniki Poznańskiej, Poznań (1999).
• [4] King H.W., Payzant E.A., Caughlin T.A.: Temperature discrepancies in high temperature diffractometry, Advances in X-ray Analysis 40 (1996).
• [5] Haase A., Genzel Ch., Dantz D., Lohmann M., Wallis B., Stock C.: Reimers W., A new X-ray diffractometer ‘eta’ for surface gradient investigations in phase, texture and stress analysis CAC-2000 (submitted to World Scientific).
• [6] Kraft O., Hommel M.: Arzt E., X-ray diffraction as tool to study the mechanical behaviour of thin films, Materials Science and Engineering A288 (2000) 209-216.
• [7] http://www.gnr.it/htk.htm and http://www.gnr.it/ltk.htm.
• [8] Baumbach T., Lübbert D., Gailhanou M.: Strain relaxation in surfach nano-structures studied by X-ray diffraction methods, Materials Science and Engineering B69-70 (2000) 392-396.
• [9] Kucharska B.: Characteristic of heat-resistant PVD coatings based on Xray diffraction investigations, Proc. EPDIC-11, 19-22.IX.2008, Warsaw abstr. 61.
• [10] Emsley J.: Przewodnik po pierwiastkach, Wyd. PWN, Warszawa (1977).