Badania polimerów z wykorzystaniem metody mikroskopii sił atomowych (AFM). Cz. II. Badanie przebiegu reakcji chemicznych i procesów fizycznych

Kaczmarek, H.; Czajka, R.; Nowicki, M.; Wiśniewski, M.

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Artykuł - szczegóły

Tytuł artykułu

Badania polimerów z wykorzystaniem metody mikroskopii sił atomowych (AFM). Cz. II. Badanie przebiegu reakcji chemicznych i procesów fizycznych

Autorzy

Kaczmarek H. , Czajka R. , Nowicki M. , Wiśniewski M.

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma

https://ichp.vot.pl/index.php/p

Identyfikatory

Warianty tytułu

Polymer studies using atomic force microscopy (AFM). Part II. Investigation of chemical reactions and physical processes in polymers

Języki publikacji

Abstrakty

W publikacji o charakterze przeglądowym przedstawiono możliwość śledzenia przebiegu polimeryzacji, szczepienia polimerów, a także ich degradacji oraz modyfikacji za pomocą AFM. Podano przykłady wykorzystania metody AFM do analizy właściwości mechanicznych, adhezji, tarcia, sprężystości, twardości, hydrofilowości i krystaliczności polimerów. Wymieniono niektóre zastosowania AFM w innych dziedzinach nauki (biologia, fizyka) oraz nowe pokrewne metody rozwijające się na podstawie techniki AFM.

A review covering 87 references present possibility of monitoring of polymerization (electropolymerization) and polymer grafting processes leading to different morphology of polymers (monolayers, grains). The degradation and modification of polymer surfaces induced by electromagnetic radiation were also observed with AFM (for example, changes of roughness, formation of rows, hills and holes). Examples of AFM studies of following physical phenomena and properties: mechanical roperties, adhesion, friction, elasticity, hardness, hydrophilicity, crystallinity have been presented for broad range of materials. Moreover, use of AFM in other fields (biology, physics) and new, related methods developed on AFM base have been also referred. Broad application of AFM in material sciences may be expected in the future.

Słowa kluczowe

mikroskopia sił atomowych AFM polimeryzacja szczepienie struktura geometryczna powierzchni polimerów właściwości mechaniczne adhezja tarcie krystaliczność

atomic force microscopy (AFM) polymerization grafting geometric structure of polymer surface mechanical properties adhesion friction crystallinity

Wydawca

Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Chemii Przemysłowej

Czasopismo

Polimery

Rocznik

2003

Tom

T. 48, nr 2

Strony

91--99

Opis fizyczny

Bibliogr. 87 poz.

Twórcy

autor

Kaczmarek H.

Uniwersytet Mikołaja Kopernika, Wydział Chemii, ul. Gagarina 7, 87-100 Toruń, Poland

autor

Czajka R.

Politechnika Poznańska , Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań

autor

Nowicki M.

Politechnika Poznańska , Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań

autor

Wiśniewski M.

Uniwersytet Mikołaja Kopernika, Wydział Chemii, ul. Gagarina 7, 87-100 Toruń, Poland

Bibliografia

[1] Kaczmarek H., Czajka R., Nowicki M., Oldak D.: Polimery 2002, 47, 775.
[2] Morgan J. D., Johnson C. A., Kaler E. W.: Langmuir 1997, 13, 6647.
[3] Suarez M. E, Compton R. G.: J. Electroanal. Chem. 1999,462,211.
[4] Cai X. W., Gao J. S., Xie Z. X., Xie Y., Tian Z. Q „ Мао В. W.: Langmuir 1998,14, 2508.
[5] Hietala S., Paronen M. i in.: J. Polym. Sci., Part A: Polym. Chem. 1999, 37,1741.
[6] Ton-That C., Teare D. О. H., Campbell P. A., Bradley R. H.: Surf. Sci. 1999, 433— 435, 278.
[7] Serefetinides A. A., Skordoulis C. D., Makkropoulou M. I., Kar A. K.: Appl. Surf. Sci. 1998,135, 276.
[8] Goto M., Ichinose N., Kawanishi S., Fukumura H.: Appl. Surf. Sci. 1999,138, 471.
[9] Netcheva S., Bertrand R: Nuclear Instr. Meth. Phys. Res. В 1999, 151, 129.
[10] Nowicki M., Kaczmarek H., Czajka R., Susła S.:}. Vac. Sci. Technol. A 2000,18, 2477.
[11] Kaczmarek H.: Materiały VII M międzynarodowego Sympozjum „Forum Chemiczne", Warszawa, 14— 16 maja 2001 r.
[12] Kaczmarek H.: Polymer 1996, 37, 547.
[13] Sęki T., Tanaka К., Ichimura К.: Macromolecules 1997, 30, 6401.
[14] Sęki T., Sekizawa H. К., Tanaka К., Matsuzawa Y , Ichimura К.: Supramol. Sci. 1998, 5, 373.
[15] Raiteri R., Butt H.-J., Beyer D., Jonas S.: Phys. Chem. Chem. Phys. 1999,1,4881.
[16] Freure C , Chen G., Horton J. H.: Surf. Sci. 1999, 437, 231.
[17] Burnham N. A., Kulik A. J.: „Micro/N anotribology" (red. Bhushan B.), CRC Press, Boca Raton 1999, rozdz. 5., str. 247.
[18] Ortiz C , Hadziioannou G.: Macromolecules 1999, 32, 780.
[19] Li H., Liu B., Zhang X., Gao C , Shen J., Zou G.: Langmuir 1999, 15, 2120.
[20] Bemis J. E., Akhremitchev В. В., Walker G. C.: Langmuir 1999,15, 2799.
[21] Tomasetti E., Legras R., Nysten B.: Nanotechnology 1998,9,305.
[22] Lemoine R, Me Laughlin J.: Thin Solid Films 1999, 339,258.
[23] Basire C , Fretigny C : Fur. Phys. J. AP 1999, 6, 323.
[24] Basire C., Fretigny C.: Polym. Surf. 1998,201.
[25] Li H., Zhang W., Zhang X., Shen J., Liu B., Gao C , Zou G.: Macromol. Rapid Commun. 1998,19, 609.
[26] Glennon D., Smith J. R., Nevell R. T., Begg D., Mason S. E., Watson К. L., Tsibouklis J.: J. Mater. Sci. 1997, 32, 6227.
[27] Bouhacina T., Michael D., Aime J. R, Gauthier S.: J. Appi. Phys. 1997, 82,3652.
[28] Gelbert M., Roters A., Schimmel M., Riihe J., Johannsmann D.: Surf. Interface Anal. 1999, 27,572.
[29] Nakajima К., Yamaguchi H., Lee J.-C., Kageshima M., Ikehara T., Nishi T.: Jpn. J. Appi. Phys. 1997, 36, 3850.
[30] Nysten В., Ghanem A., Costa J.-L., Legras R.: Polym. Int. 1999, 48,334.
[31] Jogikalmath G., Stuart J. K., Pungor A., Hlady V.: Colloids Surf. A: Phys. Eng. Aspects 1999,154, 53.
[32] Suzuki H „ Mashiko S.: Appl. Phys. A 1998, 66, S1271.
[33] Suzuki H., Mashiko S.: Thin Solid Films 1998, 331, 176.
[34] Marti O., Stifter T., Waschipky H., Quintus M., Hild S.: Colloids Surf. A: Phys. Eng. Aspects 1999, 154, 65.
[35] Bouhacina T., Aime J. R, Gauthier S., Michel D., Heroguez V.: Phys. Rev. В 1997, 5, 7694.
[36] Bouhacina T., Aime J. R, Attias A. J.: J. Chim. Phys. 1998, 95,1204.
[37] Gauthier S., Aime J. R, Bouhacina T., Attias A. J., Desbat B.: Langmuir 1996,12,5126.
[38] Mowery M. D., Kopta S., Ogletree D. F., Salmeron M., Evans С. E.: Langmuir 1999, 15, 5118.
[39] Nowicki M., Richter A., Kaczmarek H., Susła B., Ries R., w opracow aniu.
[40] Karbach A., Drechsler D.: Surf. Interface Anal. 1999, 27,401.
[41] Magonov S., Godovsky Y: Am. Lab. 1999, 31, 52.
[42] Magonov S., Godovsky Y: „Technical Note of Digital Instruments", Santa Barbara, AN26 6/1998.
[43] Schultz J. M., Miles M. J.: J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 1998, 36, 2311.
[44] Pearce R., Vancso G. J.: Polymer 1998, 39, 1237.
[45] Hautojarvi J., Leijala A.: J. Appl. Polym. Sci. 1999, 74, 1242.
[46] Trifonova D., Varga J., Vancso G. J.: Polym. Bull. 1998, 41, 341.
[47] Stocker W., Scumacher M., Graff S., Thierry A., Wittman J.-C., Lotz B.: Macromolecules 1998,31,807.
[48] Xu K., Gusev A. I., Hercules D. M.: Surf. Interface Anal. 1999,27, 659.
[49] Ferreiro V , Pennec Y , Seguela R., Coulon G.: Polymer 2000, 41, 1561.
[50] Lin C. W., Du Y. C.: Mater. Chem. Phys. 1999,58, 268.
[51] Gould S. A., Shulman J. B., Schiraldi D. A., Ocelli M. L.: J. Appl. Polym. Sci. 1999, 74, 2243.
[52] Huang Y, Yang Y. Q., Petermann J.: Polymer 1998, 39, 5301.
[53] Brodowsky H. M., Kremer F., Gebhard E., Zentel R.: Mol. Cryst. Lit], Cryst. 1999, 328, 429.
[54] Brodowsky H. M., Boehnke U.-C., Kremer F., Gebhard E., Zentel R.: Langmuir 1997, 13, 5387, ibid. 1999, 15, 274.
[55] Baker A. A., Helbert W., Sugiyama J., Miles M. J.: Appl. Phys. A 1998, 66, S559.
[56] Baker A. A., Helbert W., Sugiyama J., Miles M. J.: J. Structural Biology 1997, 119, 129.
[57] Kuutti L., Peltonem J., Myllarinem R, Teleman O., Forssell R: Carbohydrate Polym. 1998, 37, 7.
[58] Krok F., Czuba R, Kołodziej J., Piątkowski R, Struski R, Such B., Szymońska J., Szymoński M.: Materiały VIII Seminarium „Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii STM i AFM ", Zakopane, 7— 9 grudnia 2000 r., str. 1— 6.
[59] Dufrene Y. E, Marchal T. G., Rouxhet P. G.: Langmuir 1999, 15, 2871.
[60] Dufrene Y. F., Marchal T. G., Rouxhet P. G.: Appl. Surf. Sci. 1999,144—145, 638.
[61] Dupont-Gillain С. C., Nysten B., Rouxhet P. G.: Polym. Int. 1999, 48, 271.
[62] Haugstad G., Gladfelter W. L., Jones R. R.: Langmuir 1998, 14, 3944.
[63] Chen X., Davies M. C. i in.: Ultramicroscopy 1998,75,171.
[64] Shao Z., Mou J., Czajkowsky D. M., Yang J., Yuan J.-Y.: Adv. Phys. 1996, 45, 1.
[65] Dewez J.-L., Lhoset J.-B. i in.: Biomaterials 1998, 19, 1441.
[66] Leatherman G., Durantini E. N. i in.: J. Phys. Chem. 1999,103, 4006.
[67] Dufrene Y. E, Boonaert C. J. R, Gerin P. A., Asther M., Rouxhet P. G.: J. Bacterial. 1999, 181, 5350.
[68] Nowakowski R., Luckham P.: Materiały VIII Seminarium „Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii STM i AFM ", Zakopane, 7— 9 grudnia 2000 r., str. 0— 18.
[69] Lekka M., Laidler R, Ignacak J., Łabędź M., Lekki J., Stachura Z., Hrynkiewicz A. Z.: Materiały VIII Seminarium „Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii STM i AFM", Zakopane, 7— 9 grudnia 2000 r., str. 0— 19.
[70] Ono M. Y., Spain E. M . : J. Am. Chem. Soc. 1999,121, 7330.
[71] Мао C., Sun W., Seeman N. C.: J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 5437.
[72] Fang Y , Spisz T. S„ Wilthshire T„ Costa N. P. D., Bankman I. N., Reeves R. H., Hoh J. H.: Anal. Chem. 1998, 70, 2123.
[73] Wong S. S., Wooley A. T., Joselevich E., Cheung C. L., Lieber С. M.: J. Am. Chem. Soc. 1998,120,8557.
[74] Okita S., Ishikawa M., Miura K.: Surf. Sci. 1999, 442, L959.
[75] Edelmann F. T.: Angew. Chem. Int. Ed. 1999, 38, 1381.
[76] Friedbacher G., Fuchs H.: Pure Appl. Chem. 1999, 71,1337.
[77] Bottomley L. A.: Anal. Chem. 1998, 70, 425R.
[78] Sano M., Okamura J., Shinkai S.: Langmuir 1999, 15, 7890.
[79] Pohl D. W., Denk W., Lanz M.: Appl. Phys. Lett. 1984, 44, 651.
[80] Durig U., Pohl D. W., Rohner E: J. Appl. Phys. 1986, 59, 3318.
[81] Sonnenfeld R., Hansma P. K.: Science 1986, 232, 211.
[82] Ren E, Fan E, Bard A. J.: J. Electrochem. Soc. 1989, 136,166.
[83] Gomes S., Trannoy N., Grossel R: Meas. Sci. Technol. 1999,10, 805.
[84] Majumdar A.: Annu. Rev. Mater. Sci. 1999, 29, 505.
[85] Henning K., Hochwitz T.: Mater. Sci. Eng. В 1996, 42, 88.
[86] Nyffenegger R. M., Penner R., Schierle R.: Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1878.
[87] Rugar D., Mamin H. J., Guethner R, Lambert S. E., Stern J. E., McFadyan L, Yogi T.: J. Appl. Phys. 1990, 68,1169.

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-BPL7-0005-0129