Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
The principles of atomic force microscopy in polymer studies
Języki publikacji
Abstrakty
Przedstawiono ogólny zakres zastosowań i możliwości badawczych mikroskopu sił atomowych (AFM). Omówiono konstrukcję jego podstawowych podzespołów (dźwignia i ostrze pomiarowe, układ pomiaru ugięcia dźwigni, skaner, system sprzężenia zwrotnego, komputerowy generator obrazu). Opisano rodzaje oddziaływań (van der Waalsa, elektrostatyczne, magnetyczne, kapilarne i siły odpychania krótkiego zasięgu) oraz sposoby ich badania za pomocą tego mikroskopu. Dokonano analizy podstawowych i zespolonych systemów pracy AFM, wskazując na ich najistotniejsze zastosowania. Scharakteryzowano ograniczenia badawcze i główne źródła błędów (drgania zewnętrzne, zmiana wymiarów elementów konstrukcyjnych pod wpływem zmian temperatury) w pomiarach za pomocą AFM.
A general scope of applications and research possibilities is presented for the atomic force microscope (AFM). Construction of fundamental subassemblies, viz., lever and measuring edge, lever deflection measuring system, scanner, feedback system, computerized image generator, is described. Interaction types (van der Waals, electrostatic, magnetic, capillary and short-range repulsion forces) are presented and methods of their AFM studies are presented. The major and combined AFM operation systems are described and major applications emphasized. Research limitations and major error sources are indicated (external vibrations, temperature dilatation or shrinkage of construction details).
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
520--532
Opis fizyczny
Twórcy
autor
autor
- Instytut Przetwórstwa Tworzyw Sztucznych "Metalchem", ulM. Skłodowskiej-Curie 55, 87-100 Toruń
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPL7-0001-0070
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.