PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Metoda analizy narażeń części do prognozowania niezawodności obiektów technicznych rzeczywistego systemu nadzoru

Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
The method of the parts stress analysis prediction of technical objects in the supervision system
Konferencja
Logistyka, Systemy Transportowe i Bezpieczeństwo w Transporcie - LOGITRANS 2009 (VI ; 15-17.04.2009 ; Szczyrk, Polska)
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W Referacie zaprezentowano koncepcję wykorzystania metody analizy narażeń części (ang. Parts Stress Analysis Prediction) do prognozowania niezawodności obiektów technicznych rzeczywistego systemu nadzoru stosowanego w dużym centrum logistycznym. Zastosowana prognoza niezawodności obiektów technicznych dotyczy elementów brzegowych rozpatrywanego systemu nadzoru, jakimi są ekspandery umożliwiające obsługę odpowiednich detektorów przez system. Celem prognozy niezawodności powyższych obiektów będzie, w dalszej części opracowania, analiza i ocena systemu pozwalająca na opracowanie harmonogramu pracy systemu przy określonej gotowości i ustalonym wyposażeniu.
EN
The article presents the conception of the parts stress analysis prediction method to predict the reliability of the technical objects in the supervision system applied in the large logistic centre. The applied method relates to external elements (expanders) of the considered supervision system. The aim of the above method will be, in further part of the article, the analysis and evaluation of the system allowing to elaborate of the work schedule of the system together with the defined availability and equipment.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
CD--CD
Opis fizyczny
-pełny tekst, Bibliogr. 7 poz.
Twórcy
autor
Bibliografia
  • [1] Instrukcja instalatora systemu Satel dla ekspandera CA-64 E: Ekspander wejść CA 64-E; SATEL sp. z o.o. ul. Schuberta 79 80-172 Gdańsk 2008
  • [2] Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 5.1 MICROCIRCUITS, GATE/LOGIC ARRAYS AND MICROPROCESSORS, 2.XII.1991 r.
  • [3] Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 6.1 DIODES, LOW FREQUENCY, 2.XII.1991 r.
  • [4] Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 6.14 DISCRETE SEMICONDUCTORS, TJ DETERMINATION, 2.XII.1991 r.
  • [5] Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 5.10 MICROCIRCUITS, πE, πL AND πQ TABLES FOR ALL, 2.XII.1991 r.
  • [6] Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 5.9 MICROCIRCUITS, C2 TABLE FOR ALL, 2.XII.1991 r.
  • [7] Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 19.1 QUARTZ CRYSTALS, 2.XII.1991 r., 9.1 RESISTORS, 2.XII.1991 r.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPL6-0019-0084
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.