Zastosowanie transmisyjnej mikroskopii elektronowej do analizy struktury amorficznej i nanokrystalicznej w stopach

• Autorzy: Dudkiewicz J. , Morgiel J. , Kuśnierz J. , Lityńska L. , Maziarz W.

Warianty tytułu

EN

Transmission electron microscopy in the study of the amorphous and nanocrystalline structure in alloys

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa jest podstawową techniką w badaniach struktury amorficznej uzyskanej poprzez odlewanie na wirującym walcu lub przez mechaniczną syntezę składników. Wysokorozdzielacza mikroskopia amorficznych taśm stopów ZrNiTiCu pozwoliła na identyfikację obszarów uporządkowania bliskiego zasięgu w strukturze amorficznej, jak też w pewnych wypadkach istnienie nanokrystalicznych zarodków w tej strukturze. Krystalizacja taśm prowadziła do wytworzenia drobnokrystalicznej struktury faz F - Zr2Ni, i B TiNi. Mapy rozkładu pierwiastków wykazały tendencje segregacji tytanu i miedzi. W proszkach mielonych w młynach kulowych zidentyfikowano strukturę nanokryształów o wielkości 2 nm na podstawie odstępu i kąta pomiędzy płaszczyznami w krysztale. W prasowanych na gorąco elementach intermetalicznych z proszków TiAlV po MS zidentyfikowano ziarna o wielkosci 20 - 30 nm. Badania strukturalne prętów po wciskaniu w kanale kątowym wykazały istnienie granic wysokokątowych pomiędzy ziarnami o wielkości do 200 nm, wyjaśniając znaczny wzrost wytrzymałości.

EN

The application of transmission electron microscopy TEM will be shown in the study of the amorphous structure resulting after melt spinning or mechanical alloying and that of nanocrystalline obtained after high deformation or crystallization of the amorphous. The High Resolution Electron Microscopy HREM f amorphous ribbons from alloys ZrNiTiCu allowed to identify short range ordered regions within the amorphous structure and nanograins within the amorphous. Crystalization of amorphous ribbons lead to nanostructure consisting of phases F - Zr2Ni, and B TiNi. Elemental mapping indicated segregation of Cu and Ti. Structure studies of milled powers allowed to identify structure of 2 nm crystals within from crystal spacing and the angle of cross grating fringes. TEM studies of hot pressed intermetallic TiAlV samples allowed to identify the nanometer range grains structure with a mean size of about 20 - 30 nm. The structure of copper rods after Equal Channel Angular Pressing ECAP has shown high angle boundaries between 200 nm grains explaining significant strength grain.

Słowa kluczowe

PL

transmisyjna mikroskopia elektronowa; szkła metaliczne; materiały nanokrystaliczne

EN

transmission electron microscopy; amorphous materials; nanocrystalline materials

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Hutnik, Wiadomości Hutnicze
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 71, nr 7-8
• Strony: 288--291
• Opis fizyczny: Bibliogr., 13 poz., rys.

Twórcy

autor

Dudkiewicz J.

• Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, 30-059 Kraków, ul. Reymonta 25
• Akademia Pedagogiczna Kraków ul. Podchorążych 2

autor

Morgiel J.

• Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, 30-059 Kraków, ul. Reymonta 25

autor

Kuśnierz J.

• Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, 30-059 Kraków, ul. Reymonta 25

autor

Lityńska L.

• Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, 30-059 Kraków, ul. Reymonta 25

autor

Maziarz W.

• Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, 30-059 Kraków, ul. Reymonta 25

Bibliografia

• 1. Inoue A.: Bulk amorphous Alloys, Trans.Tech. Publications 1999
• 2. Inoue A.: Materials Science and Engineering: A Yolume: 304-306, (2001) 1-10
• 3. Hań C., TakeuchiA., Inoue A.: Mater. Trans. JIM 40 (1999) 42
• 4. Inoue A.: Materia Jpn. 36 (1997) 926
• 5. LipsittH. A.: Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 39, 351 - (1985)
• 6. Kim Y.-W., Dimiduk D. M.: JOM 43, 840 - (1991)
• 7. YamaguchiM., Umakoshi Y.: Próg. Mater. Sci. 34, l - (1990)
• 8. Dutkiewicz J., Maziarz W., Scholz R.: Inżynieria Materiałowa 4 299 - (2001)
• 9. Dutkiewicz J., Maziarz W.: EMR-S Fali meeting, Warsaw, September 14-18 2003
• 10. Valiev R. Z., Islamgaliev R. K. Alexandrov I. V.: Bulk nanostructured materials from severe plastic deformation, Próg. Mat. Sci. 45 (2000), 102-189
• 11. Kuśnierz J., Baudin T., Jasieński Z., Penelle R.: Neutron and X-ray diffraction study of Al and Cu during ECA processing and subseąuent recrystallization, Revue de Metallurgie — CIT/Science et Genie des Materiaux, Sept. 2003, pp. 825-834
• 12. Kuśnierz J.:, Microstructure and texture evolving under Eąual Channel Angular (ECA) processing, Archives of Metallurgy, 45(2001), 375-384
• 13. Kuśnierz J., Baliga W., Bogucka J.: Effect of pre-deformation by ECA pressing on shear banding and texture of cold rolled copper, Proc. XIX Conf. on Applied Crystallography, \-4 Sept. 2003, Katowice-Kraków - w druku