Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Kryterium Plescha wyraża liczbowo istotność wpływów między pierwiastkowych w analizie XRF. Na przykładzie analizy narzędziowej stali wolframowej wykazano przydatność tego kryterium w ocenie zjawisk wzmocnienia i osłabienia promieniowania. Skuteczność wyboru zobrazowano na matematycznych modelach parametrów empiycznych analizy XRF: Lucasa-Tootha-Phyna, de Jongha oraz regresji wielokrotnej.
Plesch criterion expresses numerical significance of interelemental influences in XRF analysis. On the example of tungsten tool steel analysis suitability of Plesch criterion for estimation effects of radiation intensification and attenuation was shown. The effectiveness of selection was presented on mathematical models of empirical parameters of XRF: Lucas-Tooth-Pyn, de Jongh and multiple regression analysis.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
564--572
Opis fizyczny
Bibliogr. 20 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Uniwersytet Śląski - Katowice
autor
- Uniwersytet Śląski - Katowice
autor
- Huta Baildon - Katowice
Bibliografia
- 1. Praca zbiorowa: Zbiór wykładów z II (1961) oraz III (1966) Konferencji nt. Anwendung der Spektroanalyse”, C.H.F. Müller, Darmstad
- 2. Srissey R.M.: Anal. Chem., t. 25, 1953, s. 190
- 3. Krächter H., Jäger W.: Arch. F. Eisenhüttenwesen, t. 28, 1957, s. 633
- 4. Houk W. W., Silveran Ł: Anal. Chem., 31, 1959, s. 1069
- 5. de Laffolie L.: Arch. f. Eisenhüttenwesen, t. 33, 1962, s. 101
- 6. Caldwell V. E.: X-Ray Spectrom, t. 5, 1976, nr 1, s. 31
- 7. Brauner H. J., StrickerF., Friedchoff P., Heinen M.: Arch. f. Eisenhüttenwesen, t. 43, 1976, nr 7, s. 559
- 8. Jurczyk J., Fabiś M., Wilczek I., Gralewska L.: Hutnik-Wiadomości Hutnicze, t. 61, 1994, nr 3, s. 86
- 9. Röntgenfluorszenzanalyse. Anwendung in Betriebslaboratorien, pr. zb. pod redakcją H. Ehrharda, Leipzig 1988. Verlag f. Grundstoffmdustrie, Lipsk
- 10. Sherman J.: Spectrochim. Acta, t. 7, 1955, s. 283
- 11. Orlic I., Makjanic J., Valkovic V.: X-Ray Spectrom, t. 4, 1985, nr 2, s. 50
- 12. Criss J. V., Birks L.S.: Anal. Chem., t. 40, 1968, s. 1080
- 13. Marti N.: Spectrochim. Acta., t. 16, 1968, s. 379
- 14. Mitchel B. J., Hopper F. N.: Appl. Spectroscopy, t. 20, 1966, nr 3, s. 172
- 15. de Jongh W. K.: X-Ray Spectrom, t. 2, 1973, s. 151
- 16. Lucas-Tooth H. J., Pyne C.: Adv. X-ray Anal., t. 7, 1964, s. 523
- 17. Gilfrich J. W., Birks L. S.: Anal. Chem., t. 40, 1968, s. 1077
- 18. Fatemi M., Birks L. S.: Anal. Chem., t. 45, 1973, s. 1443
- 19. Fatemi M., Birks L. S.: Ad. X-ray Anal., t. 17, 1973, s. 302
- 20. Plesch R.: X-Ray Spectrometry, t. 5, 1976, s. 142
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPL0-0001-8290