Transformacja transparentnych testów krokowych w testy symetryczne

• Autorzy: Mrozek I.

Warianty tytułu

EN

Transformation of transparent march algorithms into symmetric tests

• Konferencja: TRANSCOMP - XIV International Conference Computer Systems Aided Science, Industry and Transport
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Pamięci półprzewodnikowe wykorzystywane są obecnie we wszystkich systemach cyfrowych w tym w systemach o znaczeniu krytycznym, w których proces testowania poszczególnych podzespołów musi odbywać się periodycznie podczas normalnej pracy całego systemu. W wypadku pamięci RAM i testowania periodycznego bardzo ważną rolę odgrywają transparentne testy krokowe. Jedną z najbardziej interesujących technik pozwalających na implementację testów transparentnych jest technika oparta na testach symetrycznych. W artykule przedstawiona zostanie metoda transformacji dowolnego niesymetrycznego testu krokowego w postać symetryczną.

EN

High-density memories are often used in safety-critical microelectronic systems. Transparent March algorithms allow realizing periodic testing of memory while preserving its contents. One of the most interesting technique, which allows to implement the transparent memory testing is based on symmetry of march tests. This paper presents the technique which allows to transform any asymmetric march test to the symmetric one.

Słowa kluczowe

PL

testowanie pamięci RAM; testy krokowe; testowanie transparentne

EN

symmetric tests

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Poznański Instytut Technologiczny
• Czasopismo: Logistyka
• Rocznik: 2010
• Tom: nr 6
• Opis fizyczny: Pełny tekst na CD, Bibliogr. 8 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Mrozek I.

• Politechnika Białostocka, Wydział Informatyki, 15-351 Białystok, ul Wiejska 45a,

Bibliografia

• [1] Van de Goor A. J.: Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice. Chichester, John Wiley & Sons, 1991.
• [2] Al-Harbi, S.M. ; Noor, F. ; Al-Turjman, F.M. : March DSS: A New Diagnostic March Test for All Memory Simple Static Faults, Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on, Vol. 26 , Issue 9, pp. 1713 – 1720, September 2007
• [3] Sosnowski J.: Testowanie i niezawodność systemów komputerowych. Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, 2005.
• [4] Nicolaidis M.: Transparent BIST for RAMs. In Proceedings of the IEEE International Test Conference, Baltimore, MD, pp. 598-607, 1992.
• [5] Hellebrand S., Wunderlich H.J., Yarmolik V. N.: Symmetric transparent BIST for RAMs. DATE’99: In Proceedings of the conference on Design, Automation and Test in Europe, pp. 135, New York, NY, USA, 1999. ACM Press.
• [6] Nicolaidis M.: Theory of transparent BIST for RAMs. IEEE Transaction of Computers, 45(10):1141–1156, October 1996.
• [7] Mrozek I.: Symetryczne, niedestrukcyjne techniki identyfikacji I rozpoznawania błędów działania pamięci. Materiały konferencyjne „Inżynieria wiedzy i systemy ekspertowe”, s. 399-406, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław, 2000.
• [8] Mrozek I.: Wykrywanie i lokalizacja uszkodzeń pamięci RAM oparte o transparentne testy pamięci, rozprawa doktorska , Politechnika Białostocka, Białystok 2004.