Efektywne wykrywanie uszkodzeń PSF oparte o zmianę adresacji w iteracyjnym procesie testowania pamięci RAM

• Autorzy: Mrozek I.

Warianty tytułu

EN

Effective PSF detection in RAM based on addressing changing in iterative application of March tests

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia propozycję zastosowania testów typu March do efektywnego wykrywania uszkodzeń złożonych (uszkodzeń wiążących zależnością wiele komórek pamięci) występujących w pamięci RAM. Proponowana idea pozostawia niezmienione wartości w testowanym układzie po zakończeniu sesji testowej. Może zatem być używana do cyklicznego testowania pamięci podczas normalnej pracy urządzeń elektronicznych zawierających pamięć RAM. Przedstawiana technika pozwala z bardzo wysokim prawdopodobieństwem wykryć wszystkie istniejące w pamięci uszkodzenia złożone. Zastosowanie w proponowanej idei testów typu March gwarantuje również wykrycie wszystkich uszkodzeń prostych znajdujących się w pamięci.

EN

This paper develops the new solution for memory testing based on transparent memory tests in terms of pattern sensitive faults detection. Previous research has outlined that the only march tests can be in use now to test modern memory chips. Their transparent versions are very efficient for the simple fault diagnoses. The solution has been proposed in this paper dealing with the extension of known algorithms for the case of pattern sensitive faults. Using march test according to the proposed technique it is possible to detect pattern sensitive memory faults with a very high probability.

Słowa kluczowe

PL

testowanie pamięci RAM; testy krokowe(march tests); uszkodzenia Pattern Sensitive Faults (PSF)

EN

effective PSF detection; RAM; addressing changing; iterative application of March tests

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Poznański Instytut Technologiczny
• Czasopismo: Logistyka
• Rocznik: 2011
• Tom: nr 6
• Opis fizyczny: Pełny tekst na CD, Bibliogr. 6 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Mrozek I.

• Państwowa Wyższa Szkoła Informatyki i Przedsiębiorczości w Łomży, Akademicka 14 , 18-400 Łomża,

Bibliografia

• [1] Cheng K.L., WU C.W. Neighborhood Pattern-Sensitive Fault Testing for Semiconductor Memories, proc. VLSI Design/CAD Symp., Pingtung Aug. 2000, s. 401-404
• [2] Mrozek I. Zastosowanie techniki symetrycznych testów pamięci do efektywnego wykrywania uszkodzeń typu Pattern Sensitive Faults w pamięci RAM, „II Sympozjum Modelowanie i Symulacja Komputerowa w Technice ” - Wyższa Szkoła Informatyki w Łodzi, Łódź 2003, s.137-140
• [3] Nicolaidis M. Transparent BIST for RAMs, Proc. IEEE Int. Test Conf., Baltimore, MD, Oct. 1992, pp. 598-607
• [4] Van De Goor A.J Testing semiconductor memories, theory and practice, John Wiley & Sons 1991, ISBN 0 471 92586 1
• [5] Mrozek I, Yarmolik, V.N.: Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej, Elektronika, R.51, nr 9, s. 161-163, 2010
• [6] Sosnowski, J., Tupaj, L.: CPU Testability in Embedded Systems, In Proceedings of 2010 IEEE nternational Symposium on Electronic Design, Test & Applications, DELTA 2010, pp 108-112, 2010