Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Identyfikatory
Warianty tytułu
Realizacja układu filtru usuwającego składową stałą w pomiarach szumów wybuchowych
Konferencja
GDAŃSKIE DNI ELEKTRYKI (XXXVII ; 11-12.10.2012 ; Gdańsk, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
Noise is generated in all semiconductor devices. The intensity of these fluctuations depends on used elements, manufacturing process, operating conditions and device type. The result noise is a superposition of different kinds of fluctuations like thermal noise, generation-recombination noise, 1/f noise, shot noise and Random Telegraph Signal (RTS) noise. The last one, RTS noise is observed as nonstationary impulse fluctuations. Unfortunately, it is hard to notice and investigate the RTS because of DC component value in contradiction to small amplitude of noise impulses. In the paper a simple filtrating system which removes the DC component without AC signal distortion is presented. Example oscilloscope measurement results and their analysis are also shown.
Szum jest generowany przez wszystkie urządzenia półprzewodnikowe. Szum wynikowy jest zwykle efektem superpozycji różnych rodzajów fluktuacji: szumu termicznego, szumu generacyjno-rekombinacyjnego, szumu 1/f i RTS. Ten ostatni, Random Telegraph Signal, jest obserwowany jako pojedyncze, niestacjonarne impulsy w badanym sygnale. Niestety, z powodu małej amplitudy oraz znacznej wartości składowej stałej, szum RTS jest bardzo trudny do obserwacji, co znacząco utrudnia jego badanie. W celu zwiększenia dokładności pomiaru, należy usunąć składową stałą z badanego sygnału. W artykule przedstawiono system odzyskujący składową stałą, a następnie odejmujący ją od sygnału wejściowego. W efekcie w sygnale wyjściowym otrzymuje się sygnał bez składowej stałej, w którym łatwiej jest zaobserwować i zbadać przebieg RTS.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
127--130
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
autor
autor
- Gdańsk University of Technology, Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics, szewczyk@eti.pg.gda.pl
Bibliografia
- 1. Konczakowska A.: Szumy małoczęstotliwościowe a indywidualne prognozowanie niezawodności elementów elektronicznych, Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej, Elektronika nr 77, Gdańsk 1992, ISSN 0373-8698.
- 2. Brophy J. J.: Crystalline imperfections and 1/f noise, Physical Review, vol. 115, No. 5, s. 1122-1125, 1959, ISSN 0031-9007.
- 3. Konczakowska A.: Quality and 1/f noise of electronic components, Quality and Reliability Engineering International, vol. 11, 1995, s. 165-169, ISNN 1099-1638.
- 4. Konczakowska A.: Szumy z zakresu małych częstotliwości – Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych, Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa 2006, ISBN 83-60434-11-5.
- 5. Konczakowska A., Cichosz J., Szewczyk A.: A New metod for identification of RTS nosie, Bulletin of the Polish Academy of Sciences, Technical Sciences, vol. 53, No. 4, 2006, s. 457-460, ISSN 0239-7528.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPG8-0090-0028