Wzorcowanie aparatury pomiarowej - uwagi techniczne na przykładzie mierników pola elektromagnetycznego

• Autorzy: Bieńkowski P.

Warianty tytułu

EN

Calibration of measuring instruments - technical notes on example of the electromagnetic field meters

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono zasady nadzoru metrologicznego nad wyposażeniem pomiarowym na przykładzie mierników pola elektromagnetycznego. Omówiono metody wzorcowania i interpretację świadectw wzorcowania.

EN

Paper presents principles of metrological control of the measuring equipment on example of the EMF meters. Calibration methods and interpretation of calibration certificates are presented.

Słowa kluczowe

PL

nadzór metrologiczny; miernik pola elektromagnetycznego; metody wzorcowania

EN

metrological control; EMF meters; Calibration methods

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Telekomunikacyjny + Wiadomości Telekomunikacyjne
• Rocznik: 2009
• Tom: nr 7
• Strony: 270--273
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Bieńkowski P.

• Laboratorium Wzorców i Metrologii Pola Elektromagnetycznego, ITTA Politechnika Wrocławska,

Bibliografia

• [1] PN-EN ISO/IEC 17025: 2005 Ogólne wymagania dotyczące kompetencji laboratoriów badawczych i wzorcujących
• [2] W/W, International vocabulary of basic and general terms in metrology - wydanie polskie: Międzynarodowy słownik podstawowych i ogólnych terminów z metrologii, Główny Urząd Miar, Warszawa 1996 r.
• [3] PN-EN ISO 10012: 2004 Systemy zarządzania pomiarami. Wymagania dotyczące procesów pomiarowych i wyposażenia pomiarowego
• [4] Ilustrowany Słownik Techniczny dla Wszystkich, WNT 1968 r.
• [5] ILAC-G24/OIML D 10: 2007 Guidelines for the determination of recalibration intervals of measuring equipment used in testing laboratories (Wytyczne odnośnie określania odstępów czasu pomiędzy wzorcowaniami wyposażenia pomiarowego wykorzystywanego w laboratoriach badawczych)
• [6] PN-T-06580-3 Ochrona pracy w polach i promieniowaniu elektromagnetycznym o częstotliwości od O Hz do 300 GHz. Cześć 3: Metody pomiaru i oceny pola na stanowisku pracy
• [7] Bieńkowski P: Kompaktowe wzorce pola elektromagnetycznego. Przegląd Elektrotechniczny 2008 r., nr 1
• [8] EA-4/02 Wyrażanie niepewności pomiaru przy wzorcowaniu - wydanie polskie: Gtówny Urząd Miar 2001 r.
• [9] Rotrowski J.: Teoria pomiarów. Pomiary w fizyce i technice. PWN 1986 r.
• [10] ISO 11095:1996, Linear Calibration using Reference Materials
• [11] Taylor J. R.: Wstęp do analizy btędu pomiarowego, PWN 1999 r.
• [12] Szydtowski H. (red): Teoria pomiarów, PWN 1999 r.