Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych

• Autorzy: Stawarz B. , Karczewski B.

Warianty tytułu

EN

The automatic detection of RTS noise levels in semicoductor devices

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów szumów RTS bez konieczności interpretacji wizualnej wzoru obrazu uzyskanego z graficznej reprezentacji wyników.

EN

This paper presents the new methods of identification of the number of RTS noise levels in noise signals of semi-conductor devices. The first method uses the source of data which is the noise of device under test given as a vec-tor of samples. The second one works on the image given by the NSP method. Presented methods allow for automatic identification without visual interpretation of NSP images (as it is in NSP method).

Słowa kluczowe

PL

poziom szumów RTS; przyrządy półprzewodnikowe; metoda NSP

EN

RTS noise levels; semicoductor devices; NSP method

• Wydawca: Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2007
• Tom: T. 14
• Strony: 649--655
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys.

Twórcy

autor

Stawarz B.

autor

Karczewski B.

• Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska ,Katedra Inżynierii Biomedycznej, Politechnika Gdańska

Bibliografia

• [1] Hasse L, Spiralski L: Szumy elementów i układów elektronicznych. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa, 1981.
• [2] Oren R.: Discussion of various views of popcorn noise. IEEE Transaction on Electron Devices, vol. ED-17, 1971, s. 221-226.
• [3] Konczakowska A., Cichosz J., Stawarz B.: RTS noise in optoelectronic coupled devices. Proc. of the 18th Inter. Conf. Noise and Fluctuations ICNF'2005. Salamanca, Spain, 19-23 September 2005, s. 669-672.
• [4] Konczakowska A.: Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych. Akademicka Oficyna Wydawnicza EX1T, Warszawa, 2006.
• [5] Konczakowska A, Cichosz J., Szewczyk A, Stawarz B.: Identification of optocoupler devices with RTS noise. Fluctuation and Noise Letters, Vol. 6, no 4, 2006, s. L395-L404.
• [6] Rodriquez T., Mulet J., Luque A: Behaviour of burst noise under mechanical stress. Electronic Letters, vol. 9, No. 11, 1973, s. 248-249.
• [7] Rodriquez T., Luque A: Behaviour of burst noise under UV and visable radioaton. Solid-State Electronics, vol. 19, 1976, s. 573-575.
• [8] Cichosz J., Szatkowski A.: Identyfikacja i przetwarzanie cyfrowe sygnałów szumów RTS występujących w przyrządach półprzewodnikowych. Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej m 21/2005, s. 29-37.
• [9] Cichosz J., Szatkowski A.: Noise scattering patterns method for recognition of RTS noise in semiconductor components. Proc. of the 18th Intern. Conf. Noise and Fluctuations ICNF'2005. Salamanca, Spain, 19-23 September 2005, s. 673-676.