Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Application of IEEE 1149.6 test bus for diagnosis of AC coupled digital networks
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy przedstawiono magistralę ułatwionego testowania standardu IEEE 1149.6 przeznaczoną do diagnostyki złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano metody transmisji sygnałów cyfrowych o b. wysokich częstotliwościach, a następnie przedstawiono rozwiązania kluczowych elementów magistrali: komórkę brzegowego rejestru wyjściowego z nadajnikiem sygnałów testowych oraz detektor sygnałów różnicowych o sprzężeniu pojemnościowym. Omówiono zestaw instrukcji testujących magistrali. Przedstawiono rodzaje uszkodzeń wykrywane z wykorzystaniem magistrali oraz zaprezentowano przykłady komercyjnych układów wyposażonych w magistralę.
The paper describes the IEEE 1149.6 test bus designed for complex AC coupled digital networks diagnostics. Methods of transmission of very-high-frequency digital signals are presented, then follows a presentation of solutions for key elements of the test bug: a boundary scan output register cell with a test-signal generator and a detec-tor of differential signals with ac coupling. A list of bus testing instructions is discussed. A set of potential defects detected with the use of the bus is presented, along with examples of commercial circuits equipped with a bus.
Rocznik
Tom
Strony
625--632
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska
Bibliografia
- [1] IEEE Std 1149.1-2001, IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture, IEEE,2001.
- [2] IEEE Std 1149.4-1999, IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus, IEEE, 1999.
- [3] IEEE Std 1149.6-2003, IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks, IEEE, 2003.
- [4] Eklow B., Bamhart C., Parker K.: IEEE 1149.6: A Boundary-Scan Standard for Advanced Digital Networks, Design & Test of Computers, September/October 2003,Yol. 20, No. 5 pp. 76-83.
- [5] Nota aplikacyjna National Semiconductor, SCAN90CPO2 Cross point Switch, National Semiconductor, 2005.
- [6] Nota aplikacyjna SCAN90004 4-Channel LVDS Buffer/Repeater with Pre-Emphasis and IEEE 1149.6, National Semiconductor, May, 2006.
- [7] Nota aplikacyjna: 89PES24N3 24-Lane 3-Port Non-Transparent PCI Express Switch, IDT, 2005.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPG5-0028-0031