Zastosowanie magistrali testującej IEEE 1149.6 do diagnostyki układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo

• Autorzy: Bartosiński B.

Warianty tytułu

EN

Application of IEEE 1149.6 test bus for diagnosis of AC coupled digital networks

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono magistralę ułatwionego testowania standardu IEEE 1149.6 przeznaczoną do diagnostyki złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano metody transmisji sygnałów cyfrowych o b. wysokich częstotliwościach, a następnie przedstawiono rozwiązania kluczowych elementów magistrali: komórkę brzegowego rejestru wyjściowego z nadajnikiem sygnałów testowych oraz detektor sygnałów różnicowych o sprzężeniu pojemnościowym. Omówiono zestaw instrukcji testujących magistrali. Przedstawiono rodzaje uszkodzeń wykrywane z wykorzystaniem magistrali oraz zaprezentowano przykłady komercyjnych układów wyposażonych w magistralę.

EN

The paper describes the IEEE 1149.6 test bus designed for complex AC coupled digital networks diagnostics. Methods of transmission of very-high-frequency digital signals are presented, then follows a presentation of solutions for key elements of the test bug: a boundary scan output register cell with a test-signal generator and a detec-tor of differential signals with ac coupling. A list of bus testing instructions is discussed. A set of potential defects detected with the use of the bus is presented, along with examples of commercial circuits equipped with a bus.

Słowa kluczowe

PL

IEEE 1149.6; diagnostyka; układy cyfrowe sprzężone pojemnościowo

EN

IEEE 1149.6; diagnosis; AC coupled digital networks

• Wydawca: Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2007
• Tom: T. 14
• Strony: 625--632
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Bartosiński B.

• Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

Bibliografia

• [1] IEEE Std 1149.1-2001, IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture, IEEE,2001.
• [2] IEEE Std 1149.4-1999, IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus, IEEE, 1999.
• [3] IEEE Std 1149.6-2003, IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks, IEEE, 2003.
• [4] Eklow B., Bamhart C., Parker K.: IEEE 1149.6: A Boundary-Scan Standard for Advanced Digital Networks, Design & Test of Computers, September/October 2003,Yol. 20, No. 5 pp. 76-83.
• [5] Nota aplikacyjna National Semiconductor, SCAN90CPO2 Cross point Switch, National Semiconductor, 2005.
• [6] Nota aplikacyjna SCAN90004 4-Channel LVDS Buffer/Repeater with Pre-Emphasis and IEEE 1149.6, National Semiconductor, May, 2006.
• [7] Nota aplikacyjna: 89PES24N3 24-Lane 3-Port Non-Transparent PCI Express Switch, IDT, 2005.