Zastosowanie oprogramowania COMSIS do oceny dynamicznej odporności na zakłócenia cyfrowych układów kombinacyjnych

• Autorzy: Hasse L. , Piasecki J. , Spiralski L.

Warianty tytułu

EN

Evaluation of logic circiut dynamic noise immunity using COMSIS software

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Wyniki badania odporności układów cyfrowych na zakłócenie dynamiczne w istotny sposób zależą od parametrów sygnału stymulującego. Proponowana metodyka zakłada pobudzanie badanego układu sygnałem szumu białego o określonej szerokości pasma częstotliwości. Badania symulacyjne z modelem układu progowego oraz szybkiego komparatora z histerezą przeprowadzono w środowisku COMSIS. Uzyskane wyniki potwierdzają, że im węższe pasmo szumu pobudzającego badany układ, tym wyższy poziom widmowy mocy szumów jest wymagany do przełączenia stanu logicznego.

EN

Results of noise susceptibility measurement in digital circuits depend hardly on stimulus signal parameters. The method of dynamic noise immunity measurement and simulation using a white noise signal having assumed bandwidth bas been presented. The simulation models containing a threshold circuit and a fast comparator with hysteresis loop were prepared in COMSIS environment. The achieved results confirm that the narrower bandwidth of noise stimulus the higher level of noise power spectrum is necessary to switch the digital circuit under test.

• Wydawca: Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2004
• Tom: T. 5
• Strony: 1029--1034
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., 7 rys.

Twórcy

autor

Hasse L.

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

autor

Piasecki J.

• Instytut Łączności, Pracownia P-8 w Gdańsku

autor

Spiralski L.

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

Bibliografia

• [1] Kołodziejski J.F., Spiralski L., Stolarski E.: Pomioty przyrządów półprzewodnikowych. WKiŁ, Warszawa 1990.
• [2] Piasecki J., Spiralski L., Hasse L.: Pomiar dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych z zastosowaniem wzorcowego sygnału szumowego. Krajowy Kongres Metrologii KKM'2001, Warszawa 24-27.06.2001, t. H, Sesja 7, s. 313-316.
• [3] Piasecki J., Spiralski L., Hasse L.: Sposób badania odporności na zakłócenia dynamiczne układów cyfrowych. Zgłoszenia patentowe: P-344507 z dnia 06.12.2000 oraz P-352567 z dnia 01.03.2002.