Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych

• Autorzy: Kowalewski M.

Warianty tytułu

EN

Prediction of analog performance parameters with artificial neural networks

• Konferencja: Zastosowanie komputerów w nauce i technice 2005. Cykl seminariów zorganizowanych przez Oddział Gdański PTETiS (15 ; 2005 ; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej. Sprawność testowanego układu weryfikowana jest przez porównanie wartości jego parametrów funkcjonalnych ze specyfikacjami projektowymi. Metodę zaimplementowano w systemie laboratoryjnym złożonym z dwóch generatorów 33120A oraz multimetru 34401A firmy Agilent, dołączonych do komputera osobistego za pośrednictwem interfejsu RS232. W artykule przedstawiono architekturę stanowiska laboratoryjnego, omówiono zastosowanie bloków funkcjonalnych oraz sposób sterowania pracą przyrządów laboratoryjnych. Zweryfikowano przydatność różnych typów sieci neuronowych oraz sposobów ich uczenia na przykładzie filtru dolnoprzepustowego drugiego rzędu.

EN

In this paper a method for testing performance parameters of analog electronic circuits in time domain is presented. Testing circuit is excited with transient test signal optimised with genetic algorithm. Identification of performance parameters depends on mapping the transient test measurements from the measurement space to the performance parameter space with use of artificial neural network. A pass/fail decision is made based on comparison of predicted performance parameters with circuit specifications. The testing method was applied in laboratory system composed of two generators 33120A and multimeter 34401A connected to personal computer with RS232 interface. This paper presents architecture of laboratory system and describes application of functional blocks. The usefulness of different architectures of neural networks and training algorithms using a 2nd order law pass filter as an example is presented.

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2005
• Tom: nr 21
• Strony: 157--162
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., 5 rys.

Twórcy

autor

Kowalewski M.

• Ktedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej, ul. G. Narutowicza 11/12 80-952 Gdańsk tel: [phone] fax: [phone]

Bibliografia

• 1. Rutkowski J.: Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektro-nicznych, Warszawa WKiŁ 2003, s. 11-15, ISBN 83-206-1484-8.
• 2. Variyam P. N., Cherubal S., Chatterjee A.: Prediction of Analog Performance Parameters using Fast Transient Testing, IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2002, s. 349-361, ISSN 0278-0070.
• 3. Tsai S. J.: Test vector generation for linear analog devices. International Test Conference, 1991, s. 592-597, ISBN 0-8186-9156-5.
• 4. Pan C. Y., Cheng K. T.: Test generation for Linear Time-Invariant Analog Circuits, IEEE Trans. on Circuits and Systems, 1999, s. 554-564, ISSN 0098-4094.
• 5. Osowski S.: Sieci neuronowe w ujęciu algorytmicznym, Warszawa WNT 1996, s. 37-73, ISBN 83-204-2197-7.
• 6. Catelani, M.; Fort, A.: Soft Fault Detection and Isolation in Analog Circuits: Some Results and a Comparison Between a Fuzzy Approach and Radial Basis Function Networks, IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement, Vol. 51, No. 2, 2002, s. 196 – 202, ISSN 0018-9456.