CAD package for designing of self-testable VLSI circuits

• Autorzy: Bojanowicz D.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents a modern CAD package, which aims designers in designing and verification of self-testable VLSI digital circuits.

Słowa kluczowe

EN

CAD system; self-testable circuits; built-in self-test; circuit simulation

• Wydawca: Polska Akademia Nauk, Wydział IV Nauk Technicznych
• Czasopismo: Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
• Rocznik: 1998
• Tom: Vol. 46, nr 4
• Strony: 514--523
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., 5 rys.

Twórcy

autor

Bojanowicz D.

• Institute of Computer Science Silesian University, ul. Będzińska 60, 41-200 Sosnowiec, Poland.,