PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Modelling of thin Si layers growth on partially masked Si substrate

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
This paper presents a numerical simulation of epitaxial lateral overgrowth of silicon layers from the liquid phase of an Sn solvent. A two-dimensional diffusion equation has been solved and the concentration profiles of Si in a Si-Sn rich solution during the growth have been constructed. The epilayer thickness and width have been obtained from the concentration near the interface.
Rocznik
Strony
121--126
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., rys.
Twórcy
autor
autor
  • Institute of Physics, Lublin University of Technology, Nadbystrzycka 38, 20-618 Lublin, Poland
Bibliografia
  • [1] Zytkiewicz Z R, Dobosz D, Liu Y C and Dost S 2005 Cryst. Res. Technol. 40 (4/5) 321
  • [2] Kimura M, Djilali N and Dost S 1994 J. Crystal Growth 143 334
  • [3] Kimura M et al. 1996 J. Crystal Growth 167 516
  • [4] Liu Y C, Zytkiewicz Z R and DostS 2005 J. Crystal Growth 275 953
  • [5] Yan Z, Naritsuka S and Nishinaga T 2000 J. Crystal Growth 209 1
  • [6] Nikfetrat K, Djilali Angeles and Dost S 1996 Appl. Math. Modelling 20 371
  • [7] Jozwik I and Olchowik J M 2006 J. Crystal Growth 294 367
  • [8] Jozwik I and Olchowik J M 2006 21st EU PVSEC, Dresden, Germany
  • [9] Anderson J D Jr 1995 Computational Fluid Dynamics - The Basics with Applications, USA
  • [10] Sharafat S and Ghoniem N 2000 Summary of Thermo-Physical Properties of Sn, Los Angeles
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPG4-0035-0066
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.