Analysis of nonlinear effects as a diagnostic tool

• Autorzy: Hasse L. , Šikula J. , Blaha M.

Warianty tytułu

PL

Analiza efektów nieliniowych jako narzędzie diagnostyczne

• Konferencja: Zastosowanie komputerów w nauce i technice 2006. Cykl seminariów zorganizowanych przez Oddział Gdański PTETiS (16 ; 2006 ; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Methods of nonlinear effects analysis al the output signal of tested objects give the possibility of defects and damage examination in materials and electronic devices what is useful in reliability prediction. For passive elements a very effective tool exemplifies Third Harmonic Index (THI). The THI measurements for interference suppressor capacitors and its properties have been described in detail. The application of bispectrum in analysis of resistance fluctuations in gas sensors was briefly presented. Advantages of nonlinear spectroscopy in non-destructive testing of objects have also been pointed out.

PL

Metody analizy efektów nieliniowych nieliniowej analizy sygnałów na wyjściu testowanych obiektów umożliwiają badanie występowania defektów i uszkodzeń w materiałach i elementach elektronicznych, co jest niezbędne w predykcji niezawodności. W odniesieniu do elementów biernych bardzo skutecznym narzędziem okazuje się być wskaźnik trzeciej harmonicznej (THI -- Third Harmonic Index). W artykule bardziej szczegółowo opisano pomiary parametru THI i jego właściwości dla kondensatorów przeciwzakłóceniowych. Skrótowo przedstawiono zastosowanie bispektrum w analizie fluktuacji rezystancji czujników gazu. Wyszczególniono również zalety spektroskopii nieliniowej w badaniach nieniszczących obiektów.

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2006
• Tom: Nr 22
• Strony: 63--71
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., 8 rys.

Twórcy

autor

Hasse L.

autor

Šikula J.

autor

Blaha M.

• Gdańsk University of Technology, Faculty of Electronics, Telecommunication and Informatics, Department of Optoelectronics and Electronic Systems tel: [phone] fax: [phone],

Bibliografia

• 1. J. Sikula J., Hruska P., Vasina P., Schauer P., Kolarova r.: Noise and THI reliability indicators for thin film resistors. 10th European Passive Components Symposium CARTS-Europe’96, October 7-11, 1996, Nice, France, s. 200-209.
• 2. http://www.miflex.com.pl/eng/capacitors/interference.htm
• 3. Hasse L., Rogala K., Spiralski L., Turczyński J.: Factors determining the production testing of high reliability interference supressor capacitors. Proc. 13th Int. Symp. Measurements for Research and Industry Applications IMEKO. Athens, 29.09.2004, vol. 1, s. 116-121, ISBN 960-254-644-1.
• 4. Hasse L., Rogala K., Šikula J., Spiralski L.: Evaluation of Foil Capacitor Nonlinearities and Fluctuations During Manufacturing. 19th European Passive Components Symposium CARTS-Europe’05, October 17-20, 2005, Prague, Czech Republic, s. 217-223, ISSN 0887-7491.
• 5. Hasse L., Smulko J., Spiralski L.: Gas detection in semiconductor sensors using fluctuation phenomena. Electronic Devices and Systems IMAPS CS Intern. Conf. 2005: Innovative Technologies for the Development of Electronic Products (Workshop): Proc.; Brno Czech Republic, 15-16.09.2005, s. 260-263.
• 6. Smulko J.M., Ederth J., Kish L.B., Heszler P., Granqvist C.G.: Higher-order spectra in nanoparticle gas sensors. Fluctuation and Noise Letters 2004, vol. 4, No. 4, s. L597-L603.
• 7. Spiralski L., Hasse L., Šikula J., Ćwilewicz R., Nondestructive Investigations of Materials and Mechanical Objects by Means of the Random Phenomena Analysis, Proc. Conf. Physics and Materials Science, May 27-30, 2001, Vienna, s. 86-93, ISBN 83-88443-75-5.
• 8. Johnson P., Ten Cate J.A.: Non-destructive Testing of Materials by Nonlinear Elastic Wave Spectroscopy, http://www.ees.lanl.gov/ees11/nonlinear/diagnostics.html