Komputerowy algorytm identyfikacji szumów RTS

• Autorzy: Cichosz J. , Konczakowska A. , Szatkowski A.

Warianty tytułu

EN

A computing algorithm of multi-level RTS noise identification

• Konferencja: Zastosowanie komputerów w nauce i technice 2006. Cykl seminariów zorganizowanych przez Oddział Gdański PTETiS (16 ; 2006 ; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie przedstawiono algorytm identyfikacji wielopoziomowych szumów RTS {Random Telegraph Signal) w sygnałach szumowych małej częstotliwości oparty na aproksymacji odcinkowo-stałej. Algorytm umożliwia wydzielanie składowej RTS z sygnału szumowego przyrządu półprzewodnikowego. W wyniku zastosowania algorytmu można wyznaczyć wartości poziomów impulsów RTS i ich czasy trwania. Dokładność wydzielenia składowej RTS przeanalizowano badając zgodność z rozkładem Gaussa lej części sygnału szumowego, którą otrzymano po odjęciu składowej RTS zidentyfikowanej z wykorzystaniem zaproponowanej procedury.

EN

A computing algorithm of identification of multi-level RTS noise has been proposed. The procedure makes it possible to extract the RTS component from noise signal which has been recorded. The proposed computing algorithm is the well-processing procedure in the case, if an RTS with noise being analysed decomposes into the sum of the RTS component and the remainder component having the mean value equal to zero, where the arithmetic mean value is calculated on the time intervals being the domains of the successive RTS pulses, and next, if a respectively defined separation condition is satisfied by the successive RTS pulses. With the use of the computing procedure one can find the levels and duration times of the sequence of the successive RTS pulses. One can estimate the accuracy of the extraction of an RTS component of an RTS with noise by analysing the statistical properties of the remainder component, which is expected to be a gaussian noise having zero mean value. Also NSP analyses of the extracted Random Telegraph Signals and of the remainder noise components have been taken into account. The procedure has been used and discussed in examination of the low-frequency noise of the semiconductor devices.

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2006
• Tom: Nr 22
• Strony: 9--18
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz.,6 rys.

Twórcy

autor

Cichosz J.

autor

Konczakowska A.

autor

Szatkowski A.

• Politechnika Gdańska, tel: [phone],

Bibliografia

• 1. Celik-Butler Z., Vasina P., Amarasinghe N.V.: A Method for Locating the Position of Oxide Traps Responsible for Random Telegraph Signals in Submicron MOSFETs, IEEE Trans. on Electron Devices, vol. 47, pp. 646–647, March 2000, ISSN 0018-9383.
• 2. Vandamme L.K.J., Macucci M.: 1/f and RTS Noise in Submicron Devices: Faster is Noisier, “Unsolved Problems of Noise and Fluctuations in Physics, Biology, and High Technology”, November 2005 Lecce, Italy, s. 436-443, ISSN 1551-7616.
• 3. Celik-Butler Z.: Measurement and Analysis Methods for Random Telegraph Signals, Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices, Kluwer Academic Publisher 2004, s.219-226, ISBN 1402021682.
• 4. Kolhatkar J.S., Vandamme L.K.J., Salm C., Wallinga H.: Separation of Random Telegraph Signals from Noise in MOSFETs under Constant and Switched Bias Conditions, European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2003 s. 549–552, ISBN: 0-7803-8100-9.
• 5. Cichosz J., Szatkowski A.: Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise in Semiconductor Components, 18th International Conference “Noise and Fluctuations”, September 2005 Salamanca, Spain, s. 673-676, ISBN 0-7354-0267-1.
• 6. Cichosz J., Szatkowski A.: Identyfikacja i przetwarzanie cyfrowe sygnałów szumów RTS występujących w przyrządach półprzewodnikowych, Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Nr 21, Gdańsk 2005, s. 29-37, ISSN 1425-5670.
• 7. Konczakowska A., Cichosz J., Stawarz B.: RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices, 18th International Conference “Noise and Fluctuations”, September 2005 Salamanca, Spain, s. 669-672, ISBN 0-7354-0267-1.