Badanie właściwości fazy skondensowanej metoda! Emisji niskoenergetycznych elektronów wspomagana analiza rentgenograficzna

• Autorzy: Gągorowska B. , Duś-Sitek M.

Warianty tytułu

EN

Investigation of condensed phase properties by the emission of low-energetistic electrons supported by x-ray diffraction analysis

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono właściwości układów wielowarstwowych Cu/Ni wykorzystując metodę emisji niskoenergetycznych elektronów wspomaganą analizą rentgenograficzną. Otrzymane obrazy dyfrakcyjne dla układów przed nagrzewaniem wykazały obecność pików satelickich, z kolei dla próbek nagrzewanych do temperatury 933 K struktura ich została zachwiana. Z badań metoda emisji elektronów otrzymano krzywą emisyjną, na której obserwuje się dwa maksima. Nagrzewanie wymusza proces rozrostu obszarów nanokrystalicznych, tworzenia granic międzyfazowych oraz wystąpienie zjawisk transportowych. Aby uzyskać pełne informacje na temat emisji elektronów badano także stan powierzchni obydwu rodzajów próbek. Ponieważ zjawisko emisji elektronów wykorzystano jako metodę do kompleksowego badania faz krystalicznych, w pracy wykazano, że metodę tą można również wykorzystać do badania nanokrystalicznych struktur wielowarstwowych.

EN

The exoemission properties of multi-layered Cu/Ni systems are presented. Samples were tested using emission of low-energetistic electrons. Furthermore, the x-ray diffraction analysis was made to determine the quality of the multi-layer structure. The x-ray diffraction spectra for systems before heat treatment showed the presence of satellite peaks. Heating of samples up to 933 K induced some distortion of their structure. Investigation of electron emission resulted in determining the temperature dependence of the emission intensity, with characteristic two maxima peaks. Heat treatment of samples provokes the growth of nanocrystalline clusters, the formation of interfacial boundaries as well as pronouncement of transport phenomena. To obtain full information about emission of electrons, the surface topography of Cu/Ni superlattices was investigated. Until now electron emission phenomenon was used as a method of complex investigations of crystalline phase properties. The aim of this paper is to demonstrate, that the electron emission method is a valuable tool to investigate the nanocrystalline multi-layer structures.

Słowa kluczowe

PL

metoda emisji niskoenergetycznych elektronów; układy wielowarstwowe (supersieci); analiza rentgenograficzna

EN

low-energetistic electrons emission method; multi-layered structur; X-ray diffraction analysis

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Mechaniki Precyzyjnej
• Czasopismo: Inżynieria Powierzchni
• Rocznik: 2006
• Tom: nr 2
• Strony: 87--91
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., 3 rys.

Twórcy

autor

Gągorowska B.

autor

Duś-Sitek M.

• Politechnika Częstochowska

Bibliografia

• [1] Tumański S.: Thin Film Magnetoresistive Sensors, Institute of Phisics, Bristol & Philadelphia 2001.
• [2] Waser R.: Nanoelectronics and Jnformatin Technology, WILEY-VCH 2O03.
• [3] Tokarz A.: Elektrochemiczna technologia wytwarzania, właściwości elektrofizyczne, magnetorezystancja supersieci miedź-nikiel, praca doktorska, Wyd. Politechnika Częstochowska, 2001.
• [4] Cullity B.D.: Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, Wyd. PWN, Warszawa 1964, s. 366-70.
• [5] Egzoelektronnaja emisja, red. I.W. Kryłow, Izdatielstwo Inostrannoj Literatury, Moskwa 1962, s.147.
• [6] Jewdokimow W.D., Siemow Ju.: Egzoelekronnaj emisja pri treni, Izdatielstwo Nauka, Moskwa 1973.
• [7] Duś-Sitek M.: Mechanizmy powstawania nierównowagowych koncentracji ładunków jako źródeł pola elektrycznego w warstwie wierzchniej metali, Wyd. WIPMiFS, Częstochowa 2002.
• [8] Kortow W.C., Slesariew A.J., Rogow W.W.: Egzoemisjonnyj kontrol powierchnosti dietaliej posle obrabotki, Naukowa Dumka, Kijew 1986.