Noise spectroscopy and nonlinearity testing of passive electronic components

• Autorzy: Šikula J. , Sedlakova V.

Warianty tytułu

PL

Spektroskopia szumowa i testowanie nieliniowości elektronicznych elementów pasywnych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Traditional methods to predict reliability for electronic passive elements during production process are more and more difficult to fulfillment due to requirements on the very long ageing period and enormous number of specimens. To characterize quality and durability they can be replaceable by noise spectroscopy (including for example, low-frequency noise and partial discharge measurement) or non-linearity testing. The methodology and the results of noise, partial discharge and non-linearity measurements for thick film resistors, M-I-M, tantalum and niobium capacitors have been presented in the paper.

PL

Tradycyjne metody badania niezawodności elektronicznych elementów pasywnych są coraz trudniejsze do wyegzekwowania przy wymaganych długich czasach starzenia elementów oraz masowej produkcji. Przy badaniach jakości (trwałości) mogą być one zastąpione przez spektroskopię szumową (w tym m.in. przez pomiary szumów i badania wyładowań niezupełnych) czy też testowanie nieliniowości. W pracy przedstawiono metodykę i wyniki ich zastosowania w odniesieniu do rezystorów grubowarstwowych, kondensatorów M-I-M, tantalowych oraz z tlenkiem niobu.

• Wydawca: Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2005
• Tom: T. 8
• Strony: 901--910
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., 9 rys.

Twórcy

autor

Šikula J.

• Czech Noise Research Laboratory, Brno University of Technology, Czech Republic

autor

Sedlakova V.

• Czech Noise Research Laboratory, Brno University of Technology, Czech Republic

• Republic Czech Noise Research Laboratory, Brno University of Technology, Czech

Bibliografia

• [1] V. Sedlákovaá et al., Current Density Distribution, Noise and Non-linearity of Thick Film Resistors, CARTS US Scotsdalle March 31, 2003.
• [2] L. K. J. Vandamme, "Noise as a Diagnostic Tool for Quality and Reliability of Electronic Devices," IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 41, no. 11, pp. 2176-2187, Nov. 1994.
• [3] F. N. Hooge, T. G. M. Kleinpenning, and L. K. J. Vandamme, "Experimental studies on 1/f noise," Reports on Progress in Physics, vol. 44, no. 5, pp. 479-532, May 1981.
• [4] S. M. Sze, Physics of Semiconductor Devices, Wiley-Interscience, New York, 1981