Implementacja zmodyfikowanej metody biliniowej 2D w elektronicznym systemie wbudowanym

• Autorzy: Czaja Z.

Warianty tytułu

EN

The implementation of the modified bilinear 2D method in an electronic embedded system

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono implementację zmodyfikowanej metody biliniowej 2D diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda cechuje się prostym algorytmem diagnostycznym, który z powodzeniem można zaimplementować w 8-bitowych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI, oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą (BIST). Zaletą metody jest możliwość nie tylko detekcji uszkodzenia parametrycznego sieci analogowej, ale również lokalizacja pojedynczych uszkodzeń parametrycznych przy założeniu tolerancji elementów nieuszkodzonych.

EN

In the paper the implementation of the modified bilinear 2D fault diagnosis method of analog parts of mixed signal microsystems controlled by microcontrollers is presented. The method has a simple diagnosis algorithm, which can be implemented in 8-bits popular microcontrollers with the SPI interface, and it does not require excessive extension of the BIST of the microsystem. The advantage of the method is possibility not only a fault detection, but also localisation of a single soft faults in the analog circuits with tolerances of no-fault elements.

• Wydawca: Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2005
• Tom: T. 8
• Strony: 693--700
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., 5 rys.

Twórcy

autor

Czaja Z.

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Politechnika Gdańska

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Politechnika Gdańska

Bibliografia

• [1] Atmel Corporation, 8-bit AVR microcontroller with 16k Bytes In-System Programmable Flash, ATmega16, ATmega16L, dokument PDF, 2003.
• [2] Czaja Z.: Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych. W: [CD-ROM] Materiały Kongresowe. Kongres Metrologii KM2004. Wrocław, wrzesień 2004.
• [3] Z. Czaja, R. Zielonko: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3D and 4D spaces. IEEE Trans. on Instrumentation and Measurement, February 2003, Vol. 52, No.1, pp. 97-102.
• [4] Czaja Z., Zielonko R.: On fault diagnosis of analogue electronic circuits based on transformations in multi-dimensional spaces. Measurement 2004, vol. 35 nr 3 pp. 293-301.
• [5] Czaja Z.: Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów. W: Materiały Kongresowe. Diagnostyka 2004, vol. 30, tom 1, s. 119-122.
• [6] Analog Devices Inc., Low Power 20 mW 2.3 V to 5.5 V Programmable Waveform Generator AD9833, dokument PDF, 2003.
• [7] Analog Devices Inc., CMOS, Low Voltage Serially Controlled, Octal SPST Switches ADG714/ADG715, dokument PDF,2002.