Tester wbudowany BIST dla mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych

• Autorzy: Toczek W.

Warianty tytułu

EN

Built-in self-test for mixed-signal boards

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaproponowano oszczędne i nieinwazyjne rozwiązanie testera wbudowanego BIST dla w pełni różnicowej części analogowej układu mieszanego sygnałowo. Wymienione cechy testera osiągnięto wykorzystując właściwości nowo opracowanych wzmacniaczy operacyjnych z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego oraz modyfikując dotychczas stosowaną metodę testowania.

EN

The economical and nonintrusive solution of BIST for mixed-signal circuits, whose analog parts are fully differential, is proposed. Mentioned advantages have been obtained owing to features of the novel operational amplifiers with internal common-mode feedback and by modification of the previous testing method for fully differential circuits.

• Wydawca: Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2005
• Tom: T. 8
• Strony: 685--692
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., 8 rys., 1 tab.

Twórcy

autor

Toczek W.

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

Bibliografia

• [1] Burns M., Roberts G. W.: An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Oxford University Press, New York, Oxford, 2001.
• [2] Toczek W.: Detekcja uszkodzeń w analogowych układach w pełni różnicowych, Kongres Metrologii, 2004, 6-9. 09, 2004, Wrocław, s. 485-488.
• [3] Pallas-Areny R., Webster J.G.: Analog Signal Processing, John Wiley & Sons, New York, 1999.
• [4] Van Peteghem, Duque-Carillo J.F.: A General Description of Common-Mode Feedback in Fully-Differential Amplifiers, IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 1990, vol. 4, pp. 3209-3212.
• [5] Karki J.: Fully-Differential Amplifiers. Texas Instruments Application Report, 2002, SLOA054D.
• [6] Lubaszewski M., Mir S., Kolarik V., Nielsen C., Courtois B.: Design of Self-Checking Fully Differential Circuits and Boards, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, vol. 8, no. 2, April 2000, pp. 113-127.
• [7] Harjani R., Vinnakota B.: Analog Circuit Observer Blocks, IEEE Transactions on Circuits and Systems-II: Analog and Digital Signal Processing, 1997, vol. 44, pp. 154-163.
• [8] Mir S., Lubaszewski M., Courtois B.: Unified Build-In Self-Test for Fully Differential Analog Circuits, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 1996, vol. 9, pp. 135-151.