Badanie wybranych właściwości metrologicznych przetworników A/C w zintegrowanym środowisku programistycznym VEE Pro

• Autorzy: Lesiak P. , Gołąbek P.

Warianty tytułu

EN

Testing selected metrological parameters of the D/A converter using the VEE PRO integrated programming environment

• Konferencja: Zastosowanie komputerów w nauce i technice 2004. Cykl seminariów zorganizowanych przez Oddział Gdański PTETiS (14 ; 2004 ; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia system do badania statycznych parametrów przetworników analogowo-cyfrowych, zrealizowany za pomocą zintegrowanego środowiska programistycznego VEE Pro. System obejmuje dwa moduły. W pierwszym realizowana jest symulacja behawioralna przetwornika A/C, dzięki której możliwe jest efektywne zapoznanie się z definicjami i charakterem parametrów statycznych przetwornika. Drugi moduł obejmuje badania sprzętowe przetwornika A/C. Badanym obiektem jest przetwornik wbudowany w mikrokontroler ATMEGA 128 firmy ATMEL. Układem referencyjnym, zapewniającym generację napięć wejściowych dla przetwornika jest precyzyjna karta pomiarowa DAQBoard 2000 firmy IOTech. Sterowanie tą kartą, odczyt odpowiedzi badanego przetwornika, gromadzenie oraz przetwarzanie danych zostało zrealizowane w środowisku VEE Pro. Artykuł opisuje wybrane ważniejsze aspekty realizacji systemu.

EN

The paper presents didactic test of experiments for testing the static parameters of the D/A converters, implemented with the VEE PRO integrated programming environment. The set consists of two modules. The first one presents behavioral modeling of the converter. The simulation effectively introduces the students to the definitions and the characteristic of the static converter parameters. The second module implements hardware testing of the real converter. As a tested object the DAC embedded into A TMEL A TMEGA 128 was chosen. As a reference input voltage supply, the DAQ Board 2000 from IoTech was used. The VEE Pro drives the board, performs the readouts of the conversion results, collects the data and visualizes the parameters. The paper presents some major aspects of the experiment implementation.

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2004
• Tom: Nr 20
• Strony: 109--114
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., 5 rys.

Twórcy

autor

Lesiak P.

• Politechnika Radomska, Wydział Transportu, ul. Malczewskiego 29, 26-600 Radom tel: [phone] fax: [phone]

autor

Gołąbek P.

• Politechnika Radomska, Wydział Transportu, ul. Malczewskiego 29, 26-600 Radom tel: [phone] fax: [phone]

Bibliografia

• 1. IEEE Std. 1241 - 2000: Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. New York, USA, 2000.
• 2. Projekt DYNAD: Methods and Draft Standards for the Dynamic Characterization and Testing of Analog to Digital Converters, http://telecom.inescn.pt/projects/dynad.html.
• 3. Plassche van de, R.: Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe, Warszawa WKŁ 1997, ISBN 83-206-1217-9.
• 4. Lesiak P., Świsulski D.: Komputerowa technika pomiarowa w przykładach. Warszawa Agenda Wydawnicza PAK 2002, ISBN 83-87982-85-7.
• 5. Maxim App. Note 283: INL/DNL Measurements for High-Speed Analog-to-Digital Converters (ADCs), http://www.maxim-ic.com/appnotes.cfm/appnote_number/283, Wrzesień 2000.
• 6. Maxim App. Note 2085: Histogram Testing Determines DNL and INL Errors, http://www.maxim-ic.com/appnotes.cfm/appnote_number/283, Maj 2003.