Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Topological Indeces as Structural Parameters for PCBs
Języki publikacji
Abstrakty
Omówiono właściwości indeksów topologicznych polichlorowanych bifenyli jako potencjalnych parametrów strukturalnych w zależnościach struktura - aktywność. Stwierdzono zróżnicowaną zdolność dyskryminacyjną badanych indeksów topologicznych oraz malejący stopień ich degradacji przy przejściu od indeksów opartych na macierzy sąsiedztwa do indeksów wyznaczonych z wykorzystaniem macierzy odległości.
The properties of topological indeces for PCBs which could be used as potential structural parameters in structure - retention relationships were calculated and discussed. The examined topological indeces are characterized by varying discrimination ability and decreasing degeneracy on moving from indeces calculated from adjacency matrix to those calculated from distance matrix.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
101--108
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz., rys.
Twórcy
autor
- Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Politechnika Poznańska, Pl. M. Skłodowskiej-Curie 2, 60-905 Poznań, tel. 0/.../61/665 36 87, faks 0/.../61/665 36 49
autor
- Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Politechnika Poznańska, Pl. M. Skłodowskiej-Curie 2, 60-905 Poznań, tel. 0/.../61/665 36 87, faks 0/.../61/665 36 49
Bibliografia
- [1] Beran E., Gryglewicz S. i Stolarski M.: http://www.pcb.pl.
- [2] Gankin Y.V., Gorshteyn A.E. i Robbat A.: Anal. Chem., 1995, 67, 2548-2555.
- [3] Pyka A.: Wiad. Chem., 1997, 51, 11-12.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPG1-0015-0100