Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
VIII Seminarium Komputerów w dydaktyce 2000. Oddział Gdański PTETiS
Języki publikacji
Abstrakty
Program do określania wybranych charakterystyk podstawowych elementów półprzewodnikowych umożliwia badanie następujących elementów półprzewodnikowych: ramki NAND, bramki OPEN COLLECTOR, diody prostowniczej, Zenera, tranzystorów bipolarnych, polowych. Charakterstyki rejestrowane są za pomocą dwóch mierników typu METEX połączonych z komputerem poprzez porty szeregowe. Rejestracja odbywa się metodą statyczną, to jest tzw. metodą punk po punkcie. Program jest rozbudowanym narzędziem do rejestracji i graficznego przedstawiania danych pomiarowych. Zawarte w nim funkcje pozwalają sporządzać wykresy, zapisywać je w postaci wydruków lub zbiorów dyskowych.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
121--128
Opis fizyczny
2 rys., bibliogr. 2 poz.
Twórcy
autor
autor
- Wyższa Szkoła Morska, 81-225 Gdynia, ul. Morska 81-87, Katedra Automatyki Okrętowej, jagat@vega.wsm.gdynia.pl
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPG0-10008-0022