PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Komputerowe określanie podstawowych charakterystyk wybranych elementów półprzewodnikowych.

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
VIII Seminarium Komputerów w dydaktyce 2000. Oddział Gdański PTETiS
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Program do określania wybranych charakterystyk podstawowych elementów półprzewodnikowych umożliwia badanie następujących elementów półprzewodnikowych: ramki NAND, bramki OPEN COLLECTOR, diody prostowniczej, Zenera, tranzystorów bipolarnych, polowych. Charakterstyki rejestrowane są za pomocą dwóch mierników typu METEX połączonych z komputerem poprzez porty szeregowe. Rejestracja odbywa się metodą statyczną, to jest tzw. metodą punk po punkcie. Program jest rozbudowanym narzędziem do rejestracji i graficznego przedstawiania danych pomiarowych. Zawarte w nim funkcje pozwalają sporządzać wykresy, zapisywać je w postaci wydruków lub zbiorów dyskowych.
Twórcy
autor
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPG0-10008-0022
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.