Pomiary szumów małoczęstotliwościowych jako narzędzie diagnostyczne jakości obiektów

• Autorzy: Cichosz J. , Hasse L. , Konczakowska A. , Smulko J. , Spiralski L. , Szewczyk A.

Warianty tytułu

EN

Low-Frequency Noise Measurements as a Diagnostic Tool of Objects Quality

• Konferencja: I Sympozjum Akualne problemy w metrologii - APM `2000
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Wyniki pomiarów szumów małoczęstotliwościowych różnych obiektów stanowią cenne narzędzie diagnostyki jakości tych obiektów. W pracy przedstawiono system umożliwiajacy przeprowadzenie takich pomiarów, zwłaszcza elementów (w tym elementów półprzewodnikowych mocy) i układów elektronicznych, ale również szumów elektrochemicznych towarzyszących procesom korozji. Zastosowanie automatyczngo układu polaryzacji badanych przyrządów półprzewodnikowych jest szczególnie przydatne przy zastosowaniu systemu do pomiarów ostrzowych tych przyrządów. System może być równeż wykorzystany w wielu innych dziedzinach, m.in. do pomiarów i klasyfikacji oraz identyfikacji niestacjonarnych sygnałów emisji akustycznej w ramach metod nieniszczącego testowania struktur i obiektów.

EN

The low-frequency noise measurements of different objects can be a valuable tool for the quality diagnostics of these objects. The system enabling realization of such measurements, especially for electronic elements (also for power semiconductor devices) and devices, but also for electrochemical noise associated with corrosion processes, has been presented. The application of programmable biasing system for measured semiconductor devices is especially helpful in the system for on-wafer measurements of semiconductors. The system can be also used in other areas of applications, among others for measurements, identification and classification of nonstationary signals of the acoustic emission used in methods of nondestructive testing of structures and objects.

Słowa kluczowe

PL

pomiary szumów małoczęstotliwościowych; diagnostyka jakości obiektów

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2000
• Tom: nr 14
• Strony: 21--35
• Opis fizyczny: 7 rys., 1 tabela, bibliogr. 12 poz.

Twórcy

autor

Cichosz J.

autor

Hasse L.

autor

Konczakowska A.

autor

Smulko J.

autor

Spiralski L.

autor

Szewczyk A.

• Politechnika Gdańska, Katedra Aparatury Pomiarowej, tel. [phone], fax [phone],