Detekcja błędów w implementacji funkcji skrótu

• Autorzy: Bucholc K. , Janicka-Lipska I.

Warianty tytułu

EN

Faults detection in hash function implementation

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono metodę testowania funkcjonalnego części kombinacyjnej układu cyfrowego wykorzystywanego w implementacji funkcji skrótu. Proponowane rozwiązanie wykorzystuje fakt, że dowolny ciąg wejściowy ulega w procesie przetwarzania przekształceniu w ciąg pseudolosowy, co umożliwia wykorzystanie techniki testowania losowego do testowania układu. W pracy zaproponowano modele uszkodzeń i pokazano metodę określania rozmiaru danych wejściowych niezbędnych do wykrycia uszkodzeń z założonym prawdopodobieństwem. Metodę zilustrowano na przykładzie funkcji skrótu BLAKE.

EN

The paper presents a method of functional testing of the combinational part of a digital circuit used for hash function implementation. The proposed solution is based on the fact, that during the processing every input sequence is converted into random sequence. There for ewe can use random testing methods for the circuit testing. In the paper we describe considered fault models and present a method of evaluation of the input sequence size required for testing the circuit with given probability. The method is illustrated using the BLAKE hash function.

Słowa kluczowe

PL

funkcja skrótu; metoda testowania funkcjonalnego; detekcja błędów

EN

hash function; method of functional testing; faults detection

• Wydawca: Poznańskie Towarzystwo Przyjaciół Nauk
• Czasopismo: Studia z Automatyki i Informatyki
• Rocznik: 2011
• Tom: T. 36
• Strony: 7--13
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Bucholc K.

autor

Janicka-Lipska I.

• Politechnika Poznańska, Instytut Automatyki i Inżynierii Informatycznej, Zakład Bezpieczeństwa Systemów Informatycznych, pl. Skłodowskiej-Curie 5, 60-965 Poznań,

Bibliografia

• [1] Aumasson J.P., Henzen L., Meier W., Phan R.C.W., HA-3 Proposal BLAKE. Submission to NIST, version 1.4, 2011, http://csrc.nist.gov/groups/ST/hash/sha-3/Round3/documents/Blake_FinalRnd.zip
• [2] Fedi X., David R., Experimental Results from Random Testing of Microprocessors, Proc. 14th Int. Symp. on Fault-Tolerant Comp., 1984, s. 225-230.
• [3] Thevenod-Fosse P., David R., Random Testing of the Data Processing Section of a Microprocessor, Proc. 11th Inst. Symp. On Fault-Tolerant Comp., 1981, s. 275-280.