PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Strategia wyznaczania testów funkcjonalnych z modelu VHDL

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Strategy of functional testing from VHDL model
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Model funkcjonalny opisuje zachowanie układu logicznego w sposób niezależny od technologii i implementacji. Jest on punktem wyjścia nie tylko w procesie syntezy układu lecz także w procesie wyznaczania pobudzeń testujących działanie układu. W pracy przedstawiono i przeanalizowano sposób generowania testów funkcjonalnych w oparciu o struktury wyznaczone z modelu VHDL układu cyfrowego.
EN
Behavioral models describe a logical circuit in a way that does not depend on technology and implementation. This is an important advantage in the first stage of design. Such a model may also be used in the process of test pattern generation. Different methods of functional test generation are presented and analized in this paper. The selection of test sets is based on graphical structures such as, Data Flow Graph, Control Flow Graph and State Transition Graph which are extracted from VHDL model.
Rocznik
Tom
Strony
69--78
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., rys.
Twórcy
  • Politechnika Poznańska, Instytut Automatyki i Inżynierii Informatycznej, Zakład Bezpieczeństwa Systemów Informatycznych, pl. M. Skłodowskiej-Curie 5, 60-965 Poznań
Bibliografia
  • [1] Armstrong J.R., Chip-level Modeling with VHDL, Prentice Hall, Englewood Cliffs, New Jersey 1989.
  • [2] Armstrong J.R. Honcharik A. Fundamentals and Standards in Hardware Description Languages, Mermet J.P. (ed.), Kluwer Academic Publishers 1993.
  • [3] Idzikowska E., Data Structure in Behavioral Testing of Logical Circuits, Proc. 5th IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems, Pergamon Press 2002, s. 269-272.
  • [4] Idzikowska E., Petri Net Models of VHDL Control Statements, Proceedings of the International Workshop on Discrete-event System Design (DEDDes), Przytok, 2001, s. 195-201.
  • [5] Howden W.E., Functional Program Testing and Analysis, McGraw Hill, Nowy Jork, 1987.
  • [6] Miller E., Software Testing, Software Research Associates, Seminar, San Francisco, 1980.
  • [7] Peterson J.L., Petri Net Theory and the Modelling of Systems, Prentice-Hall, Inc., 1981.
  • [8] Veit H.H., A Contribution to the Generation of Test for Digital Circuits Described by Their Behavior, rozprawa doktorska, 1992.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPC6-0001-0062
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.