Problemy wykrywania błędów w funkcjonalnych modelach układów cyfrowych

• Autorzy: Idzikowska E.

Warianty tytułu

EN

Fault detection problems in functional models of digital circuits

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W funkcjonalnym modelu każdego układu cyfrowego można wydzielić część odpowiedzialną za przepływ danych i część nim sterującą. Uszkodzenia jakie mogą wystąpić w każdej z tych części są obserwowalne jedynie na wyjściach części przetwarzającej dane. Aby zweryfikować projekt układu cyfrowego należy więc sprawdzić, czy w tej części modelu wszystkie funkcje są realizowane poprawnie. Mówi się raczej o weryfikacji projektu a nie jego testowaniu.

EN

A functional model of a digital circuit can be decomposed into data and control part. Faults that may occur in each of these parts can be observed only at the output of the data part. In order to verify a project of a digital circuit, the correctness of all the functions performed by the data part must be checked. The term 'verification' rather than 'testing' should be used.

Słowa kluczowe

PL

model funkcjonalny; układ cyfrowy; wykrywanie błędów

EN

functional model; digital system; error detection

• Wydawca: Poznańskie Towarzystwo Przyjaciół Nauk
• Czasopismo: Studia z Automatyki i Informatyki
• Rocznik: 2005
• Tom: T. 30
• Strony: 65--72
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys.

Twórcy

autor

Idzikowska E.

• Politechnika Poznańska, Instytut Automatyki i Inżynierii Informatycznej, Zakład Bezpieczeństwa Systemów Informatycznych, pl. M. Skłodowskiej-Curie 5, 60-965 Poznań

Bibliografia

• [1] Armstrong J.R., Chip-level Modeling with VHDL, New Jersey, Prentice Hall 1989.
• [2] Armstrong J.R., Honcharik A., Fundamentals and Standards in Hardware Description Languages, Kluwer 1993.
• [3] Gersting J.L., Mathematical Structures for Computer Science, New York, W.H. Freeman and Co. 1982.
• [4] Howden W.E., Functional Program Testing and Analysis, New York, McGraw Hill 1987.
• [5] Idzikowska E., Data Structure in Behavioral Testing of Logical Circuits, Proceedings of the 5th IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems, 2002, s. 269-272.
• [6] Idzikowska E., Strategia wyznaczania testów funkcjonalnych z modelu VHDL, Studia z Automatyki i Informatyki, 2004, t. 28/29, s. 69-78.
• [7] Thatate S.M., Abraham J.A., Test Generation for Microprocessors, IEEE Transactions on Computers, 1980, Vol. C-29(6), s. 429--441.
• [8] Veit H.H., A Contribution to the Generation of Test for Digital Circuits Described by Their Behavior, rozprawa doktorska 1992.