Method and means of measuring small quantities of electrical resistance

• Autorzy: Pukach A. , Teslyuk V. , Ivantsiv R.A. , Komada P.

Warianty tytułu

PL

Metoda i sposób pomiaru małych wartości rezystancji elektrycznej

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents the results of developing simulation of a system for measuring small quantities of electrical resistance using technology of microelectromechanical systems (MEMS). It also offers the analysis and evaluation of the results. The authors established the dependence of residual voltage (as the output parameter of measuring system) on controlled resistance (as input parameter of measuring system core) during the process of balancing the electric bridge circuit.

PL

Artykuł przedstawia wyniki symulacji opracowanego systemu do pomiaru małych wartości rezystancji elektrycznej wykorzystującego układy MEMS. Przedstawiono takie analizy oraz ocenę wyników. Opisano zależność napięcia szczątkowego (jako parametr wyjściowy systemu pomiarowego) od rezystancji mierzonej (jako parametr wejściowy systemu pomiarowego) podczas procesu równoważenia mostka.

Słowa kluczowe

EN

MEMS; electric resistance; electric bridge circuit

PL

MEMS; rezystancja elektryczna; mostek elektryczny

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
• Czasopismo: Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
• Rocznik: 2012
• Tom: nr 4b
• Strony: 14--16
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Pukach A.

autor

Teslyuk V.

autor

Ivantsiv R.A.

autor

Komada P.

• Lviv Polytechnic National University, CAD Department,

Bibliografia

• [l] Broudaj I, Merej Dż.: Fiziczeskie osnowy mikrotechnologii, Mir, Moskva, 1985.
• [2] Kolpakov F.F., Borzjak N.G., Korgunov V.I.: Mikroelektromechaniczeskie ustrojstva v radiotechnikie I systemach telekommunikcij. Uczeb. Posobie. – Char’kov; Nac. aerokosm. un-t “Char’k. aviac. in-t” 2006.
• [3] Pjatnyszev E.N., Lur’e M.S., Polova I.V., Kazakin A.N.: Specifika technologii mikroelektromechaniczeskich ustrojstw. Mikrosistemnaja technika 2001, No 6, s. 32-35.
• [4] Paspopov V.Ja.: Mikromechnaiczeskie pribory: uczebnoe posobie. Maszinostroenie, Moskva 2007.
• [5] Poole C.P., Owens F.J.: Introduction to Nanotechnology. Wiley-lnterscience 2003.
• [6] Pukach A., Ivantsiv R.-A., Teslyuk V.: Methods and schemes of measuring the electric circuit resistance parameter value. Proc. of the Vl-th International Conference MEMSTECH'2010 - Lviv - Polyana, 2010, pp. 131-134.