Właściwości przetwornika A/C mikrokontrolera STM32

• Autorzy: Kowalski J.

Warianty tytułu

EN

STM32 A/D converter - metrological parameters

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawione zostały możliwości i niepewności pomiarowe wewnętrznego przetwornika mikrokontrolera STM32. W badaniach rozpoznano możliwość wykorzystania go dla budowy systemu gdzie analiza sygnału odbywającą się w mikrokontrolerze. Gdy nie ma możliwości oceny niepewności pojedynczego pomiaru konieczne jest przeprowadzenie takiej oceny na zbudowanym specjalnie do tego celu wcześniej systemie testowym. W artykule przedstawione zostały wyniki badań oraz metodyka pracy z systemem testowym.

EN

The article presents the possibilities of using and expected uncertainties of the internal A/D converter of STM32 microcontroller. The study identified the possibility of using it to build a signal analysis system in the microcontroller. In that system it is necessary to perform single measurement uncertainty analysis, which should be performed in dedicated test-system. The article describes an example of work with such test-system and methodology of working with it.

Słowa kluczowe

PL

mikrokontroler; STM32; przetwornik A/C; szum; niepewność; pomiar; sygnał

EN

microcontroller; STM32; A/D converter; noise; uncertainty; measurement; signal

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
• Czasopismo: Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
• Rocznik: 2011
• Tom: nr 4
• Strony: 11--14
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., il.

Twórcy

autor

Kowalski J.

• Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Elektrotechniki Automatyki Informatyki i Elektroniki,

Bibliografia

• 1. Nota katalogowa: STM32 Doc ID 15274 Rev 5; STMicroelectronics; 2010.
• 2. Siegmund Brandt: Metody statystyczne i obliczeniowe analizy danych ; PWN, Warszawa 1976.
• 3. Julius S. Bendat, Allan G. Piersol: Metody analizy i pomiaru sygnałów losowych ; PWN, Warszawa 1976.
• 4. Dokumentacja środowiska: Matlab vR2009b, Statistics Toolbox; The MathWorks.