Zastosowanie mikroskopu sił atomowych w badaniach topografii powierzchni warstwy wierzchniej

• Autorzy: Bramowicz M. , Lipiński T. , Szabracki P. , Rychlik K.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

mikroskop; mikroskopia sond skanujących; warstwa wierzchnia

EN

microscope; scanning probe microscopy; surface layer

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT ; Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Mechanizacji Budownictwa i Górnictwa Skalnego
• Czasopismo: Przegląd Mechaniczny
• Rocznik: 2010
• Tom: nr 11
• Strony: 45--50
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Bramowicz M.

autor

Lipiński T.

autor

Szabracki P.

autor

Rychlik K.

• Katedra Technologii Materiałów i Maszyn Uniwersytetu Warmińsko-Mazurskiego w Olsztynie

Bibliografia

• 1. Bramowicz M., Kłysz S.: Application of Atomic Force Microscopy (AFM) in diagnostic of surface layer. Research Works of AFIT No 22/2007, pp. 167 - 174.
• 2. Hartmann U.: An Elementary Introduction to Atomic Force Microscopy and Related Methods. Institute of Experimental Physics, University of Saarbrucken, D-66041 Saarbrucken, Germany 1997.
• 3. Bramowicz M.: Zastosowanie mikroskopii sit atomowych (AFM) w ocenie stopnia anizotropii mikrostruktury. Inżynieria Materiałowa nr 4/2009, ss. 235 - 238.
• 4. Mainsah E., Greenwood J.A., Chetwynd D.G.: Metrology and Properties of Engineering Surfaces. Kluwer Academic Publishers, 2001.
• 5. Stout K.J.: Development of Methods for the Characterization of Roughness in Three Dimensions. Penton Press, 2000.
• 6. Wu J.J.: Analyses and simulation of anisotropic fractal surfaces. Chaos, Solitons and Fractals 13/2002, pp. 1791 -1806.
• 7. Bramowicz M.: Analiza fraktalna mikrostruktury martenzytycznej. Inżynieria Materiałowa (artykuł przyjęty do druku).