PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Komputery przemysłowe w zastosowaniach systemów pomiarowych

Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
PL
Abstrakty
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
66--71
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., il.
Twórcy
autor
  • Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego
Bibliografia
  • 1. W. Stallings, Organizacja i architektura systemu komputerowego, Wydawnictwa Naukowo-Technicz-ne, Warszawa 2004.
  • 2. R. Pełka, Mikrokontrolery. Architektura, programowanie, zastosowania, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 1999.
  • 3. J. Zhao, F. Liu, X. Zhou, H. Zhou, J. Jing, M. Zhao, Improvementof JE-DEC Drop Test in SJR Oualification through Alternative Test Board Design, Proceedings of 57th Electronic Components and Technology Conference, 2007. ECTC '07, May 29 -June 12007, pp. 946-950.
  • 4. MIL-STD 810F Standard, available at: http://www.everyspec.com/ MIL-STD/MIL-STD+%280800+ +0899%29/MIL_STD_810F_949/
  • 5. K.R. Rao, S.M. Satav, V.V.R. Sarma, EMI controlling in a rugged launch computer, Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC 2005, 8-12Aug.2005,Vol.3,721-725.
  • 6. P. Bilski, W. Winiecki, Rozproszony wirtualny przyrząd pomiarowy czasu rzeczywistego z wykorzystaniem technologii sieci deterministycznej, "Pomiary Automatyka Kontrola" 9/2007 s. 702-705.
  • 7. Windows XP Embedded: Real-Time Extensions (RTX) and Embedded Reliability, ayaliable at: http://msdn.microsoft.com/en us/windowsembedded/standard/ aa714407.aspx
  • 8. Industry Standard Architecture, available at: http://www.hardware-book.info/ISA
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPB7-0021-0019
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.