Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Measurement thermovision system with microbolometer cameras
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy przedstawiono wybrane (podstawowe) problemy techniczne, których rozwiązanie jest niezbędne w metrologicznych systemach termowizyjnych. Przedstawiono w zarysie korekcję niejednorodności detektora matrycowego, kalibrację kamer oraz wybrane metody pomiaru emisyjności materiałów.
In this work, basic problems that have to be solved for metrological thermovision systems are presented. Non-uniformity correction (NUC), calibration and emissivity measurement are considered as the most important technical issues in todays IR technology.
Rocznik
Tom
Strony
19--23
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., il.
Twórcy
Bibliografia
- [1] M. Kuliński, B. Ostrowski, B. Więcek, Mikrobolometryczny system termowizyjny wysokiej rozdzielczości, Wiosenny zjazd SSPTChM, April 2006.
- [2] E. Mottin, A. Bain, JL. Martin, J.L. Ouvrier-Buffet, S. Bisotto, J.J. Yon, J.L. Tissot, Uncooled amorphous silicon technology enhancement for 25μm pixel pitch achievement, LETI/CEA - DOPT/LIR, Grenoble, France, 2002.
- [3] D. Scribner, M. Kruer, J. Killiany, Infrared focal plane array technology, Proceedings of the IEEE, 79(1):66-85,1991.
- [4] E. Vera R., R. Reeves D., S. Torres I., Adaptive bias compensation for non-uniformity correction on infrared focal plane array detectors, Department of Electrical Engineering, Chile.
- [5] B. Więcek, B. Ostrowski, Nowoczesne interfejsy i oprogramowanie do kamer termowizyjnych, TTP 227-231, Ustroń-Jaszowiec, November 2004
- [6] W. Minkina, Pomiary termowizyjne, przyrządy i metody, Wydawnictwo Politechniki Częstochowskiej, Częstochowa 2004
- [7] R. Siegel, J.R. Howell, Thermal Radiation Heat Transfer, 3rd ed., Taylor and Francis, Hemisphere Publishing Corporation, ISBN 0-89116-271-2, 1992.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPB7-0014-0023