Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Fractal analysis of surface roughness profile
Konferencja
Ogólnopolskie Seminarium "Techniki Jonowe" ( 8 ; 12-14.03.2003 ; Szklarska Poręba, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
Rozpylanie jonowe, występujące podczas bombardowania powierzchni ciała stałego jonami, wpływa na strukturę geometryczna tej powierzchni. Jednym z ważniejszych elementów struktury geometrycznej jest chropowatość powierzchni. Do jej analizy coraz częściej i chętniej wykorzystywany jest rachunek fraktalny. W niniejszej pracy omówiono wpływ zmian profilu powierzchni i wysokości nierówności na wymiar fraktalny analizowanej powierzchni. Wyniki teoretyczne porównano z danymi doświadczalnymi
Ion sputtering is one of the effects occurring during ion bombardment of solid state surfaces. The geometrical structure of the surface is affected by ion sputtering. It is possible to analyse the roughness of the surface by use of fractals. In this paper the influence of the profiles changes and height of the irregularities of surface on the fractal dimension is presented.
Wydawca
Rocznik
Tom
Strony
19--20
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., il.
Twórcy
autor
- Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki, Politechnika Wrocławska, Wrocław
autor
- Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki, Politechnika Wrocławska, Wrocław
autor
- Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki, Politechnika Wrocławska, Wrocław
Bibliografia
- 1. G. McGunnigle Surface RughnessCharacterisation www.cee.hw.ac.uk/~gmg/rough_surf/surfruf.htm
- 2. J. C. Russ: Fractal Surfaces Plenum Press, New York 1994.
- 3. G. Przybylski, J. Marian, Z. W Kowalski: Analiza fraktalna powierzchni rozpylanej jonami, VII Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa ELTE 2000, Polanica Zdrój, 2000, 903-907.
- 4. G. Przybylski, J. Marian, Z. W Kowalski: Fractal analysis of ion-sputtered stainless steel surface, Vacuum, 70, 2003, pp. 255-261.
- 5. J. Wilk, G. Przybylski, Z. W. Kowalski: Elektronika (XLII) 7’2001, 36-37.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPB5-0002-0046