Pomiar rozmiaru nanocząstek metodą dyfrakcji elektronowej

• Autorzy: Sagan P. , Kuźma M.

Warianty tytułu

EN

The size nanoparticle measurement by electron diffraction method

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zastosowano dopasowanie krzywych Lorentza do profilu linii dyfrakcyjnych dyfrakcji elektronowej otrzymanej z cienkiej warstwy CdCrTe uzyskanej metodą PLD. Krzywe te zostały dopasowane do krzywej eksperymentalnej za pomocą programu FITYK. Z szerokości linii wyznaczono rozmiar krystalitów który wynosi 60-143 ?. Przedstawiono dokładność metody w przypadku na materiałów nanostrukturalnych.

EN

We study the Lorentzian profiles of Debay rings in THEED patterns of thin CdCrTe solid films obtained by PLD. The diffraction lines were adjusted to the experimental patterns using FITYK software. The line widths measured provide crystallite size being between 60 - 143 ? . The accuracy of the method in respect to nanostructured materials characterization is addressed.

Słowa kluczowe

PL

nanotechnologia; dyfrakcja elektronów; rozmiar ziaren; cienkie warstwy

EN

nanotechnology; electron diffraction; grain size; thin films

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
• Czasopismo: Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
• Rocznik: 2011
• Tom: nr 1
• Strony: 18--20
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 pzo., il.

Twórcy

autor

Sagan P.

autor

Kuźma M.

• Instytut Fizyki, Uniwersytet Rzeszowski, Zakład Fizyki Półprzewodników, ul. Rejtana 16A, 35-213 Rzeszów,

Bibliografia

• [1] M. Jurczyk , Zastosowanie osiągnięć nanotechnologii w terapii nowotworowej, Gin. Prakt.; 3, 21-26, 2009
• [2] W. Przygocki, A. Włochowicz, Fulereny i nanorurki, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 2001
• [3] Jurczyk M., Jakubowicz J., Nanomateriały Ceramiczne, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2004
• [4] R. W. Kelsall, I. W. Hamley, M. Geoghegan: Nanotechnologie, WN PWN Warszawa 2008
• [5] M. Dul, W. Bażela, Określenie struktury krystalicznej oraz wielkości ziaren nanokrystalicznych próbek zwiążku La0,7Sn0,3rMnO3, Czasopismo Techniczne 1 107 (2010).
• [6] P. Scherrer, Bestimmung der Grösse und der inneren Struktur von Kolloidteilchen mittels Röntgenstrahlen, Nachr. Ges. Wiss. Göttingen 26 (1918) pp. 98-100
• [7] Z.G. Pinsker, Electron Diffraction, Butterworths Scientific Publications, London 1953.
• [8] A.M. Glaubert, Practical Methods in Electron Microscopy pp. 312, 1973.
• [9] D. B. Chrisey and G. K. Hubler: Pulsed laser deposition of thin films, (Wiley, New York 1994).
• [10] J.L. Lábár, Consistent indexing of a (set of) SAED pattern(s) with the Process Diffraction program, Ultramicroscopy, 103 (2005) 237-249
• [11] http://www.unipress.waw.pl/fityk/
• [12] B. D. Cullity, Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, PWN, Warszawa 1964.
• [13] C. Solliard, Surface Science, Structure and strain of the crystalline lattice of small gold and platinum particles 106, 58-63, 1981
• [14] V. Ciupina, S. Zamfirescu, G. Prodan, Nanotechnology – Toxicological Issues and Environmental Safety and Environmental Safety, pp. 231, 2007
• [15] D. Oleszak, A. Olszyna, Określanie wielkości krystalitów i odkształceń sieciowych w nanokompozycie NiAl-Al2O3 na podstawie poszerzenia rentgenowskich linii dyfrakcyjnych, Kompozyty 4 (2004) 11.