Zastosowanie koncepcji ważonego wykresu Ishikawy do analizy wad odlewów

• Autorzy: Łybacki W. , Zawadzka K.

Warianty tytułu

EN

Using the conception of the weighed Ishikawa. Diagram for the analysis the casting defects

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono sposób analizy wad odlewów oparty na koncepcji ważonego diagramu Ishikawy. Znany diagram Ishikawy, po określeniu zbioru przyczyn głównych i zbioru podprzyczyn, uzupełnia się o wagi cząstkowe. Przypisanie poszczególnym przyczynom i podprzyczynom wag pozwala wyodrębnić na wykresie Ishikawy przyczyny najistotniejsze i wyeliminować mniej ważne. Na konkretnym przykładzie przedstawiono metodykę analizy wad odlewów ilustrując kolejne kroki odpowiednimi tabelami i rysunkami.

EN

The method of an analysis of casting defects based on the conception of the weighed Ishikawa- diagram has been presented. The well known Ishikawa-diagram, after determination of the set of main reasons and of the set of underreasons, is completed with the partial weights. Ascribing of weights to the particular reasons and underreasons allows isolating, on the Ishikawa-diagram the most essential reasons and eliminating the less essential ones. By help of a concrete example was presented the methodology of casting defects analysis; the successive steps are illustrated with apropriate tables and figures.

Słowa kluczowe

PL

odlewnictwo; odlew; wada odlewu

EN

founding; casting defect

• Wydawca: Stowarzyszenie Techniczne Odlewników Polskich
• Czasopismo: Przegląd Odlewnictwa
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 59, nr 7-8
• Strony: 430--433
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz,. il.

Twórcy

autor

Łybacki W.

autor

Zawadzka K.

• Politechnika Poznańska, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Instutut Technologii Materiałów

Bibliografia

• 1. Odlewy - Podział i terminologia wad, PN-85/H-83105
• 2. KLUSKA-NAWARECKA S.: Metody komputerowe wspomagania diagnostyki wad odlewów, Instytut Odlewnictwa, Kraków, 1999
• 3. KINDLARSKI E.: Kontrola i sterowanie jakością, Wyd. Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 1991
• 4. HAMROL A., MANTURA W.: Zarządzanie jakością, Teoria i praktyka, Wyd. PWN, Warszawa-Poznań, 1996
• 5. GWIAZDA A.: Koncepcja ważonego wykresu Ishikawy. Problemy Jakości, Kwiecień, 2005
• 6. SZESTAK-ZAWADZKA K.: Zastosowanie metod zarządzania jakością do eliminacji wad odlewów żeliwnych, Praca dyplomowa, Politechnika Poznańska, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Poznań, 2007