Identyfikatory
Warianty tytułu
Selekcja cech z wykorzystaniem funkcji kryterialnych typu CPL
Języki publikacji
Abstrakty
Redukcja wymiarowości zbioru cech jest często używanym wstępnym krokiem przetwarzania danych stosowanym przy rozpoznawaniu wzorców i klasyfikacji. Jest ona szczególnie istotna kiedy mała liczba obserwacji jest reprezentowana w wysoko wymiarowej przestrzeni cech. W artykule rozważana jest metoda selekcji cech opierająca się na minimalizacji specjalnej funkcji kryterialnej (wypukłej i odcinkowo-liniowej - CPL). Załączono także porównanie wyników eksperymentów uzyskanych za pomoc ą opisanej metody z wynikami metod uczestników konkursu NIPS2003 Feature Selection Challenge.
Dimensionality reduction of a feature set is a common preprocessing step used for pattern recognition and classification applications. It is particularly important when a small number of cases is represented in a highly dimensional feature space. The method of the feature selection based on minimisation of a special criterion function (convex and piecewise-linear - CPL) is considered in the article. A comparison of the experimental results of this method with the results of NIPS2003 Feature Selection Challenge participant’s methods is also included.
Rocznik
Tom
Strony
85--95
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., Tab.
Twórcy
autor
Bibliografia
- [1] Bobrowski L.: Design of Piecewise Linear Classifiers from Formal Neurons by Some Basis Exchange Technique, pp. 863–870 in: Pattern Recognition, 24(9), 1991.
- [2] Bobrowski L., Łukaszuk T.: Selection of the linearly separable feature subsets, pp.544-549 in: Artificial intelligence and soft computing: ICAISC’2004, eds. Leszek Rutkowski, Jörg Siekmann, Ryszard Tadusiewicz, Lotfi A. Zadeh, Lecture Notes in Computer Science, vol.3070, 2004.
- [3] Bobrowski L.: Eksploracja danych oparta na wypukłych i odcinkowo-liniowych funkcjach kryterialnych, Wyd. Politechniki Białostockiej, Białystok, 2005.
- [4] Duda O.R., Heart P.E., Stork D.G.: Pattern Classification, Second edition, John Wiley & Sons, 2001.
- [5] Fukunaga K.: Statistical Pattern Recognition, Academic Press, Inc., San Diego, 1990.
- [6] Liu H., Motoda H.: Computational methods of feature selection, Chapman & Hall/CRC data mining and knowledge discovery series, Chapman & Hall/CRC, 2008.
- [7] http://nips.cc/
- [8] http://www.nipsfsc.ecs.soton.ac.uk/
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPB2-0036-0012