Techniki wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody testów krokowych

• Autorzy: Sokół B.

Warianty tytułu

EN

Memory faults detection techniques with use of degrees of freedom in march tests

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Publikacja zawiera opis wybranych metod i technik wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody transparentnych testów krokowych. Główna uwaga została skupiona na uszkodzeniach uwarunkowanych zawartością typu Pattern Sensitive Faults (PSF) jako najtrudniejszych do wykrycia. Zaproponowane wykorzystanie stopni swobody testów krokowych przejawia się możliwością efektywnego przeprowadzenia transparentnego testowania i wykrywania uszkodzeń typu PSF przez proste testy krokowe i bazuje na możliwści wielokrotnego uruchomienia testu przy zmianach warunków początkowych (porządku adresowania) dla każdego uruchomienia. Wykorzystane i zaproponowane metody umożliwiają generowanie pełnych sekwencji adresowych oraz pozwalają na optymalny wybór adresów startowych przy wielokrotnym uruchomieniu testów krokowych. W pierwszej części pracy przedstawiona została problematyka testowania pamięci oraz stopnie swobody testów krokowych. Druga część pracy zawiera opis zaproponowanych rozwiązań wraz z wynikami wybranych eksperymentów.

EN

Publication shows the description of selected methods and techniques for memory faults detection with use of degrees of freedom inherent to transparent March tests. This paper deals with Pattern Sensitive Faults (PSF) as the most difficult to detect. Proposed techniques of use of degrees of freedom in March testing manifest itself in effective transparent memory testing and PSF faults detection with use of simple March tests, based on the possibility of multiple run of test with different initial conditions like address order for each run. Proposed methods allow us to choose in an optimal way starting addresses for multiple March tests run. In the first part of this publication, memory testing problems, testing principles and degrees of freedom were presented. Second part of this publication shows the description of proposed solutions with selected results.

Słowa kluczowe

PL

testowanie pamięci; testy krokowe; uszkodzenia PSF; stopnie swobody

EN

memory testing; march tests; pattern sensitive faults (PSF); degrees of freedom

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
• Rocznik: 2008
• Tom: Z. 3
• Strony: 129--144
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., tab.

Twórcy

autor

Sokół B.

• Politechnika Białostocka, Wydział Informatyki, Białystok

Bibliografia

• [1] Cheng K.L.,Wu C.W.: Neighbourhood Pattern Sensitive Fault Testing for Semiconductor Memories, Proc. VLSI Design/CAD, Pingtung, Aug. 2000, pp.401- 404.
• [2] Goor A.J. van de: Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice, Chichester: John Wiley and Sons Ltd., 1991.
• [3] Goor A.J. van de, Smit B.: Generating March Tests Automatically, IEEE International Test Conference, IEEE Computer Society, Washington, DC, USA, 1994, pp. 870-878.
• [4] Goor A.J. van de, Gaydadjiev G.N., Yarmolik V.N., Mikitjuk V.G.: Memory Tests and their Fault Coverage into a New Perspective, Resulting into a New Test, SEMICON, Seul, Korea, Jan. 1996.
• [5] Goor A.J. van de, Al-Ars Z.: Functional Memory Faults: A Formal Notation and a Taxonomy, 18th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’00), IEEE Computer Society, Montreal, Canada, 2000, pp. 281-289.
• [6] Mrozek I., Yarmolik V.N.: Detection of Pattern Sensitive Faults by Multiple Transparent March Tests, Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, proc. 10th International Conference, MIXDES 03, Lodz 26-28 June 2003, pp. 542-545.
• [7] Nicolaidis M.: Transparent BIST for RAMs, IEEE International Test Conference, IEEE Computer Society, Baltimore, MD, USA, 1992, pp. 596-607.
• [8] Niggemeyer D., Otterstedt J., Redeker M.: Detection of Non classical Memory Faults using Degrees of Freedom in March Testing, Rec. 11th Workshop ”Testmethods and Reliability of Circuits and Systems”, Potsdam, Feb. 1999.
• [9] Sokol B., Mrozek I., Yarmolik V.N.: Transparent March Tests to Effective Pattern Sensitive Faults Detection, Proceedings of the IEEE East-West Design and Test InternationalWorkshop (EWDTW 2004), Crimea, September 23-26, 2004, pp.: 166-171.
• [10] Sokol B., Yarmolik V.N.: Memory Faults Detection Techniques with Use of Degrees of Freedom in March Tests, Proceedings of the IEEE East-West Design and Test InternationalWorkshop (EWDTW 2005), Odessa, Ukraine, September 15-19, 2005, pp.: 96-101.
• [11] Sokol B., Yarmolik S.V.: Address Sequences for March Test to Detect Pattern Sensitive Faults, Proceedings of Third IEEE International Workshop on Electronic Design Test and Applications (DELTA’06), Kuala Lumpur, Malaysia, January 17-19, 2006, pp.:354-357.
• [12] Yarmolik V.N., Hellebrand S., Wunderlich H.J.: Symetric transparent BIST for RAMs, Design and Test in Europe DATE’99, Munich 1999.
• [13] Yarmolik V.N., Sokol B., Yarmolik S.V.: Counter Sequences for Memory Test Address Generation, Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, proc., 12th International Conference MIXDES 2005, Krakow, Poland 22-25 June, 2005, pp.413-418.
• [14] Yarmolik S.V., Sokol B.: Optimal Memory Address Seeds for Pattern Sensitive Faults Detection, Proceedings of the IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’2006), Prague, Czech Republic, April 18-21, 2006 - pp.220-221.
• [15] Yarmolik S.V., Mrozek I., Sokol B.: Address Sequences Generation for Multiple Run Memory Testing, Proceedings of the 6th Internation Conference Computer Information Systems and Industrial Management Applications (CISIM 07), Elk, Poland, June 28-30, 2007 - pp.341-344.